[实用新型]一种可靠性试验的承载治具有效
| 申请号： | 201520053752.4 | 申请日： | 2015-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN204422574U | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 杨景城;曾明;刘强 | 申请（专利权）人： | 广州华微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 谭英强 |
| 地址： | 510730 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种可靠性试验的承载治具，包括上盖、下盖和两个侧壁，所述上盖、下盖和侧壁形成一用于承载元器件的内部空间，所述两个侧壁中的一个侧壁开有用于将元器件倒入或倒出内部空间的治具口，所述上盖设有上水槽，所述下盖设有下水槽。本实用新型在上盖和下盖增设了上水槽及下水槽，有效防止了治具在做可靠性实验时出现内部积水的情况，可靠性更高；开有用于将元器件倒入或倒出由上盖、下盖和侧壁形成的内部空间的治具口，可以直接与料管互倒元器件，无需再在实验结束后花费人力来穿管，提高了工作效率。本实用新型可广泛应用于集成电路测试领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可靠性 试验 承载 | ||
【主权项】：
一种可靠性试验的承载治具，其特征在于：包括上盖、下盖和两个侧壁，所述上盖、下盖和侧壁形成一用于承载元器件（3）的内部空间，所述两个侧壁中的一个侧壁开有用于将元器件（3）倒入或倒出内部空间的治具口（6），所述上盖设有上水槽（1），所述下盖设有下水槽（2）。
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