[实用新型]一种可靠性试验的承载治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试领域，尤其是一种可靠性试验的承载治具。

背景技术

目前，在半导体功率器件制造工艺中，每批次元器件在每个测试项目所需的可靠性实验样本数量较大（如77ea），且在每批次实验结束后都需要花费人力来穿管，效率较低。在投可靠性时，业内普遍使用的承载治具为托盘，编有序号的元器件按照编号是放置在托盘中的。但是，在做可靠性实验的时候，托盘内容易积水，容易因管脚上附有托盘的锈迹而导致元器件在测试时失效，可靠性较低。此外，托盘的承载方式在实验结束后仍需要花费人力来穿管，效率仍较低。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型的目的是：提供一种可靠和高效的，可靠性试验的承载治具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种可靠性试验的承载治具，包括上盖、下盖和两个侧壁，所述上盖、下盖和侧壁形成一用于承载元器件的内部空间，所述两个侧壁中的一个侧壁开有用于将元器件倒入或倒出内部空间的治具口，所述上盖设有上水槽，所述下盖设有下水槽。

进一步，所述上盖还设有一用于固定元器件的第一牙齿状支架，所述第一牙齿状支架位于上水槽的下方。

进一步，所述下盖还设有两个用于支撑元器件的第二牙齿状支架，所述两个第二牙齿状支架分别位于下水槽的左上和右下两侧。

本实用新型的有益效果是：在上盖和下盖增设了上水槽及下水槽，有效防止了治具在做可靠性实验时出现内部积水的情况，可靠性更高；开有用于将元器件倒入或倒出由上盖、下盖和侧壁形成的内部空间的治具口，可以直接与料管互倒元器件，无需再在实验结束后花费人力来穿管，提高了工作效率。进一步，增设了一用于固定元器件的第一牙齿状支架，能有效防止因元器件在治具内部倾斜而出现倒料不顺畅现象或因元器件位置不固定而出现元器件顺序被打乱的现象，更加可靠。进一步，增设了两个用于支撑元器件的第二牙齿状支架，减少了元器件与治具的接触面积，有利于可靠性试验中的水汽流通，使可靠性试验的效果更佳。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

图1为元器件在托盘内的摆放方式示意图；

图2为托盘在可靠性试验设备内的摆放方式示意图；

图3为本实用新型一种可靠性试验的承载治具的正视图；

图4为本实用新型一种可靠性试验的承载治具的侧视图；

图5为本实用新型上盖的内部结构示意图；

图6为本实用新型下盖的内部结构示意图；

图7本实用新型在可靠性试验设备内的摆放方式示意图。

附图标记：1、上水槽；2、下水槽；3、元器件；4、第一牙齿状支架；5、第二牙齿状支架；6、治具口。

具体实施方式

参照图3-6，一种可靠性试验的承载治具，包括上盖、下盖和两个侧壁，所述上盖、下盖和侧壁形成一用于承载元器件3的内部空间，所述两个侧壁中的一个侧壁开有用于将元器件3倒入或倒出内部空间的治具口6，所述上盖设有上水槽1，所述下盖设有下水槽2。

参照图3、4和5，进一步作为优选的实施方式，所述上盖还设有一用于固定元器件3的第一牙齿状支架4，所述第一牙齿状支架4位于上水槽1的下方。

参照图3、4和6，进一步作为优选的实施方式，所述下盖还设有两个用于支撑元器件3的第二牙齿状支架5，所述两个第二牙齿状支架6分别位于下水槽2的左上和右下两侧。

下面结合说明书附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。

实施例一

参照图3-7，本实用新型的第一实施例：

本实用新型提供了一种可靠性试验的承载治具，可以承载切断后的散粒半导体功率器件。其中，1为上水槽，2为下水槽，可以方便水汽进入或流出。3为元器件；4为第一牙齿状支架，用于卡住元器件，防止元器件在治具里面倾斜而导致倒料不顺畅的情况；5为第二牙齿状支架，减少元器件和治具的接触面积，有利于实验中水汽的流通，从而达到最佳的实验效果，

采用本实用新型的治具代替托盘装载元器件时，需要用料管对准治具开口处，通过元器件自身的重力而慢慢倾斜将元器件倒入治具，装载完毕后，再将治具整齐地摆放在实验设备内部。

由于本实用新型的治具远远比托盘节省空间，实验设备内部至少可以摆放15条治具，提高了实验效率。

做完实验后将治具口对准料管口，便可将元器件轻松倒入料管，免去人工穿管的麻烦。

与现有技术相比，本实用新型一种可靠性试验的承载治具具有以下优点：