[实用新型]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201520033617.3 | 申请日： | 2015-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN204347207U | 公开（公告）日： | 2015-05-20 |
| 发明（设计）人： | 尚跃;余夕霞 | 申请（专利权）人： | 上海聚跃电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，所述芯片测试装置中的电源与显示器连接，所述电源通过稳压器与测量设备连接，测量设备分别与显示器、测量治具连接，所述芯片安装在测量治具上；所述测量治具包括第一芯片固定体、第二芯片固定体、第三芯片固定体和基座，所述第一芯片固定体、第二芯片固定体和第三芯片固定体均安装在基座上，所述第一芯片固定体由多个芯片夹具组成，第一芯片固定体上的多个芯片夹具呈正方形布置，所述第二芯片固定体和第三芯片固定体由两个平行布置的芯片夹具组成，所述第二芯片固定体上的两个芯片夹具之间的距离大于第三芯片固定体上的两个芯片夹具之间的距离。本实用新型提供的芯片测试装置的通用性好、芯片测试的效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置包括电源、稳压器、测量设备、显示器、测量治具和芯片，所述电源与显示器连接，所述电源通过稳压器与测量设备连接，测量设备分别与显示器、测量治具连接，所述芯片安装在测量治具上；所述测量治具包括第一芯片固定体、第二芯片固定体、第三芯片固定体和基座，所述第一芯片固定体、第二芯片固定体和第三芯片固定体均安装在基座上，所述第一芯片固定体由多个芯片夹具组成，第一芯片固定体上的多个芯片夹具呈正方形布置，所述第二芯片固定体和第三芯片固定体由两个平行布置的芯片夹具组成，所述第二芯片固定体上的两个芯片夹具之间的距离大于第三芯片固定体上的两个芯片夹具之间的距离。
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