[实用新型]一种芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置包括电源、稳压器、测量设备、显示器、测量治具和芯片，所述电源与显示器连接，所述电源通过稳压器与测量设备连接，测量设备分别与显示器、测量治具连接，所述芯片安装在测量治具上；所述测量治具包括第一芯片固定体、第二芯片固定体、第三芯片固定体和基座，所述第一芯片固定体、第二芯片固定体和第三芯片固定体均安装在基座上，所述第一芯片固定体由多个芯片夹具组成，第一芯片固定体上的多个芯片夹具呈正方形布置，所述第二芯片固定体和第三芯片固定体由两个平行布置的芯片夹具组成，所述第二芯片固定体上的两个芯片夹具之间的距离大于第三芯片固定体上的两个芯片夹具之间的距离。

2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片安装在第一芯片固定体、第二芯片固定体和第三芯片固定体中的一个或多个上。

3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一芯片固定体、第二芯片固定体和第三芯片固定体分别通过线路与测量设备连接。

4.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述稳压器的电压是可调的。

5.根据权利要求1至4任一所述的芯片测试装置，其特征在于，所述芯片夹具设有多个有规律地插孔，所述插孔为通孔，所述插孔的形状为圆形或方形。

6.根据权利要求5所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一芯片固定体上的插孔的形状为圆形，所述第二芯片固定体和第三芯片固定体上的插孔的形状为方形，所述第二芯片固定体上的插孔的宽度小于第三芯片固定体上的插孔的宽度。