[发明专利]一种绝缘体岛上硅衬底材料及其制备方法在审
| 申请号: | 201511017959.7 | 申请日: | 2015-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN105552019A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
| 发明(设计)人: | 俞文杰;刘强;刘畅;文娇;王翼泽;王曦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 罗泳文 |
| 地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明提供一种绝缘体岛上硅衬底材料及其制备方法,所述绝缘体岛上硅衬底材料,包括:底层硅;绝缘层,结合于所述底层硅表面,且于对应于制备晶体管沟道的位置具有直至所述底层硅的凹槽;顶层硅,结合于所述绝缘层表面。本发明通过在对应于制备晶体管沟道的绝缘层中制作凹槽,该凹槽贯穿于顶层硅及底层硅之间,使得后续制备的晶体管沟道下方具有挖空区域。本发明结构及方法简单,可有效提高器件的可靠性,在半导体制造领域具有广泛的应用前景。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 绝缘体 岛上 衬底 材料 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种绝缘体岛上硅衬底材料的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括步骤:步骤1),提供第一硅衬底,于所述第一硅衬底表面形成绝缘层;步骤2),对所述第一硅衬底进行剥离离子注入,于所述硅衬底中定义剥离界面;步骤3),于所述绝缘层表面形成掩膜层,并于对应于制备晶体管沟道的位置形成刻蚀窗口;步骤4),基于刻蚀窗口刻蚀所述绝缘层,形成直至所述第一硅衬底的凹槽;步骤5),提供第二硅衬底,并键合所述第二硅衬底及所述绝缘层;步骤6),进行退火工艺使所述第一硅衬底从剥离界面处剥离,与所述绝缘层键合的部分作为绝缘体岛上硅衬底材料的硅顶层;步骤7),进行高温退火,以加强所述第二硅衬底及所述绝缘层的键合强度。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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