[发明专利]一种绝缘体岛上硅衬底材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201511017959.7 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN105552019A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 俞文杰;刘强;刘畅;文娇;王翼泽;王曦 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 罗泳文
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种绝缘体岛上硅衬底材料及其制备方法,所述绝缘体岛上硅衬底材料,包括:底层硅;绝缘层,结合于所述底层硅表面,且于对应于制备晶体管沟道的位置具有直至所述底层硅的凹槽;顶层硅,结合于所述绝缘层表面。本发明通过在对应于制备晶体管沟道的绝缘层中制作凹槽,该凹槽贯穿于顶层硅及底层硅之间,使得后续制备的晶体管沟道下方具有挖空区域。本发明结构及方法简单,可有效提高器件的可靠性,在半导体制造领域具有广泛的应用前景。
搜索关键词: 一种 绝缘体 岛上 衬底 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种绝缘体岛上硅衬底材料的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括步骤:步骤1),提供第一硅衬底,于所述第一硅衬底表面形成绝缘层;步骤2),对所述第一硅衬底进行剥离离子注入,于所述硅衬底中定义剥离界面;步骤3),于所述绝缘层表面形成掩膜层,并于对应于制备晶体管沟道的位置形成刻蚀窗口;步骤4),基于刻蚀窗口刻蚀所述绝缘层,形成直至所述第一硅衬底的凹槽;步骤5),提供第二硅衬底,并键合所述第二硅衬底及所述绝缘层;步骤6),进行退火工艺使所述第一硅衬底从剥离界面处剥离,与所述绝缘层键合的部分作为绝缘体岛上硅衬底材料的硅顶层;步骤7),进行高温退火,以加强所述第二硅衬底及所述绝缘层的键合强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201511017959.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top