[发明专利]一种适应光照变化的堆积物高度测量方法和系统有效

专利信息
申请号: 201511004944.7 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN106934407B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 胡懋地;范宜强;李其均 申请(专利权)人: 航天信息股份有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06K9/32
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 郭一斐
地址: 100195 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种适应光照变化的堆积物高度测量方法及系统。将样本图像中无堆积物的图像的墙面区域标记为感兴趣区域ROI,并将感兴趣区域ROI透视校正变换成标本矩形区域;确定所述像素点的所述透视校正变换的特征向量,并将所述像素点的透视校正变换的特征向量作为标本特征向量;对于同一高度的堆积物,采集不同光照条件下的样本图像中的堆积物分界线上的各个点,再将各个点经过所述标本特征向量的变换,形成所述标本矩形区域中的分界线,由所述分界线形成分类器;对待测量图像经过所述分类器训练获取分类结果;由所述分类结果确定堆积物与墙面的分界线,以测量堆积物高度。本发明考虑了全局的最佳分割,对同类区域内的噪声更具鲁棒性。
搜索关键词: 一种 适应 光照 变化 堆积物 高度 测量方法 系统
【主权项】:
一种适应光照变化的堆积物高度测量方法,其特征在于,包括:将样本图像中无堆积物的图像的墙面区域标记为感兴趣区域ROI,并将所述感兴趣区域ROI透视校正变换成标本矩形区域;其中,记录标本矩形区域变换前的任一像素点坐标,及该像素点的RGB值;确定所述像素点的所述透视校正变换的特征向量,并将所述像素点的透视校正变换的特征向量作为标本特征向量;对于同一高度的堆积物,采集不同光照条件下的样本图像中的堆积物分界线上的各个点,再将堆积物分界线上的各个点经过所述标本特征向量的变换,形成所述标本矩形区域中的分界线,由所述分界线形成分类器;对待测量图像经过所述分类器训练获取分类结果;由所述分类结果确定堆积物与墙面的分界线,以测量堆积物高度。
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