[发明专利]一种适应光照变化的堆积物高度测量方法和系统有效

专利信息
申请号: 201511004944.7 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN106934407B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 胡懋地;范宜强;李其均 申请(专利权)人: 航天信息股份有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06K9/32
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 郭一斐
地址: 100195 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 适应 光照 变化 堆积物 高度 测量方法 系统
【权利要求书】:

1.一种适应光照变化的堆积物高度测量方法,其特征在于,包括:

将样本图像中无堆积物的图像的墙面区域标记为感兴趣区域ROI,并将所述感兴趣区域ROI透视校正变换成标本矩形区域;其中,记录标本矩形区域变换前的任一像素点坐标,及该像素点的RGB值;

确定所述像素点的所述透视校正变换的特征向量,并将所述像素点的透视校正变换的特征向量作为标本特征向量;

对于同一高度的堆积物,采集不同光照条件下的样本图像中的堆积物分界线上的各个点,再将堆积物分界线上的各个点经过所述标本特征向量的变换,形成所述标本矩形区域中的分界线,由所述分界线形成分类器;

对待测量图像经过所述分类器训练获取分类结果;

由所述分类结果确定堆积物与墙面的分界线;

所述由所述分类结果确定堆积物与墙面的分界线,包括:

按照测量矩形区域像素的行列数对应设置积分矩阵I,将待测量矩阵C当前对应列的列元素中的从当前对应行到最末行的元素值的积分赋值给积分矩阵I中对应的当前行和当前列的元素;

其中,设定积分矩阵I有h列,w行,

对积分矩阵I中的每一行,找出最小值,设I中第t行的最小值为m(t),即

其中,t=1...w;

点(1, m(1)),(2, m(2)),(3, m(3))...(w, m(w))即为测量矩形区域中堆积物与墙面的分界线;

实际墙面长度设定为W 0 , 高度设定为H 0 ,以实际墙面的左下角为坐标原点(0,0),设定右为横坐标正方向,上为纵坐标正方向,构建实际墙面的坐标系;

对于t=1...w,堆积物与墙面的分界线在横坐标处的纵坐标为为测量的堆积物实际高度;

0到W 0 之间的其他任意横坐标处的堆积物实际高度根据线性插值获取。

2.根据权利要求1所述的一种适应光照变化的堆积物高度测量方法,其特征在于,所述对待测量图像经过所述分类器训练获取分类结果,包括:

按照所述标本矩形区域对应建立测量矩形区域,按照所述测量矩形区域像素的行列数对应设置待测量矩阵C,待测量矩阵C中每一个元素位置,对应所述测量矩形区域的每一个像素位置;

对待测量特征向量采用所述分类器进行分类,其中,将样本图像中每一像素点的透视校正变换的特征向量作为待测量特征向量;若分类结果为正,则将所述待测量特征向量对应的待测量矩阵中的元素置为正数,若分类结果为负,则将所述待测量特征向量对应的待测量矩阵中的元素置为负数。

3.根据权利要求1或2所述的一种适应光照变化的堆积物高度测量方法,其特征在于,确定标本特征向量或待测量特征向量,包括:

记录光照参考区域的数量;

选择任一个光照参考区域的几何中心的坐标点作为参考点并记录所述参考点坐标;

并记录第r张图像中第i个光照参考区域的RGB直方图特征向量及所述RGB直方图特征向量维数;

根据所述光照参考区域的数量、所述参考点坐标、所述第r张图像中第i个光照参考区域的RGB直方图特征向量及所述RGB直方图特征向量维数确定所述透视校正变换的特征向量;

以所述透视校正变换的特征向量作为标本特征向量或待测量特征向量。

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