[发明专利]具有晶体管单元和增强单元的半导体器件有效

专利信息
申请号: 201510975028.1 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN105720054B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: R.巴布尔斯克;M.戴内泽;C.耶格;J.G.拉文 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L29/423;H01L29/739
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张凌苗;王传道
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 提供了具有晶体管单元和增强单元的半导体器件。一种半导体器件包括晶体管单元(TC)和增强单元(EC)。每个晶体管单元(TC)包括与漂移结构(120)形成第一pn结(pn1)的本体区(115)。晶体管单元(TC)可以在第一控制信号(C1)超过第一阈值(Vthx)时在本体区(115)中形成反型沟道(115x)。反型沟道(115x)形成漂移结构(120)与第一负载电极(310)之间的连接的一部分。延迟单元(400)生成第二控制信号(C2),第二控制信号(C2)的后沿相对于第一控制信号(C1)的后沿延迟。增强单元(EC)在第二控制信号(C2)下降到低于比第一阈值(Vthx)低的第二阈值(Vthy)时在漂移结构(120)中形成反型层(120y)。反型层(120y)作为少数电荷载流子发射极起效。
搜索关键词: 具有 晶体管 单元 增强 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:晶体管单元(TC),包括与漂移结构(120)形成第一pn结(pn1)的本体区(115),所述晶体管单元(TC)配置为在所述本体区(115)中形成反型沟道(115x),在第一控制信号(C1)超过第一阈值(Vthx)时,所述反型沟道(115x)形成所述漂移结构(120)与第一负载电极(310)之间的连接的一部分;延迟单元(400),配置为生成第二控制信号(C2),所述第二控制信号(C2)的后沿相对于所述第一控制信号(C1)的后沿延迟;以及增强单元(EC),配置为在所述第二控制信号(C2)下降到低于比所述第一阈值(Vthx)低的第二阈值(Vthy)时在所述漂移结构(120)中形成反型层(120y),其中所述反型层(120y)作为少数电荷载流子发射极起效。
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