[发明专利]具有晶体管单元和增强单元的半导体器件有效
申请号: | 201510975028.1 | 申请日: | 2015-12-23 |
公开(公告)号: | CN105720054B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | R.巴布尔斯克;M.戴内泽;C.耶格;J.G.拉文 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L29/423;H01L29/739 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;王传道 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 提供了具有晶体管单元和增强单元的半导体器件。一种半导体器件包括晶体管单元(TC)和增强单元(EC)。每个晶体管单元(TC)包括与漂移结构(120)形成第一pn结(pn1)的本体区(115)。晶体管单元(TC)可以在第一控制信号(C1)超过第一阈值(Vthx)时在本体区(115)中形成反型沟道(115x)。反型沟道(115x)形成漂移结构(120)与第一负载电极(310)之间的连接的一部分。延迟单元(400)生成第二控制信号(C2),第二控制信号(C2)的后沿相对于第一控制信号(C1)的后沿延迟。增强单元(EC)在第二控制信号(C2)下降到低于比第一阈值(Vthx)低的第二阈值(Vthy)时在漂移结构(120)中形成反型层(120y)。反型层(120y)作为少数电荷载流子发射极起效。 | ||
搜索关键词: | 具有 晶体管 单元 增强 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:晶体管单元(TC),包括与漂移结构(120)形成第一pn结(pn1)的本体区(115),所述晶体管单元(TC)配置为在所述本体区(115)中形成反型沟道(115x),在第一控制信号(C1)超过第一阈值(Vthx)时,所述反型沟道(115x)形成所述漂移结构(120)与第一负载电极(310)之间的连接的一部分;延迟单元(400),配置为生成第二控制信号(C2),所述第二控制信号(C2)的后沿相对于所述第一控制信号(C1)的后沿延迟;以及增强单元(EC),配置为在所述第二控制信号(C2)下降到低于比所述第一阈值(Vthx)低的第二阈值(Vthy)时在所述漂移结构(120)中形成反型层(120y),其中所述反型层(120y)作为少数电荷载流子发射极起效。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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