[发明专利]基于PSD的高精度两维位移测量系统在审

专利信息
申请号: 201510974502.9 申请日: 2015-12-23
公开(公告)号: CN105571494A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 张振东;姜润强;王红宣 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种基于PSD的高精度两维位移测量系统,包括:PSD信号采集处理电路板,电源以及激光器;所述PSD信号采集处理电路板分别与电源和激光器相连;所述电源和激光器相连;所述PSD信号采集处理电路板在信号处理流程上依次包括:PSD,PSD前端信号调理单元、模数转换单元和数字信号处理单元;所述数字信号处理单元与上位机相连。本发明的基于PSD的高精度两维位移测量系统,将PSD信号采集处理板、激光器、电源集成在一起,使其成为一套完整的两维位移测量系统,不仅可以提高测量精度,而且还实现了位移检测的数字化和自动化。
搜索关键词: 基于 psd 高精度 位移 测量 系统
【主权项】:
一种基于PSD的高精度两维位移测量系统,其特征在于,包括:PSD信号采集处理电路板,电源以及激光器;所述PSD信号采集处理电路板分别与电源和激光器相连;所述电源和激光器相连;所述PSD信号采集处理电路板在信号处理流程上依次包括:PSD,PSD前端信号调理单元、模数转换单元和数字信号处理单元;所述数字信号处理单元与上位机相连。
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