[发明专利]激光测距仪的性能参数的检测方法在审

专利信息
申请号: 201510964486.5 申请日: 2015-12-18
公开(公告)号: CN105352531A 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: 郑鸿章 申请(专利权)人: 深圳市众望达光电有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 冯筠
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种激光测距仪的性能参数的检测方法,包括:激光测距仪调整至能正常接收光信号的位置。多路空间距离光波导系统设置多个不同标定距离的第一光波导。激光测距仪根据控制计算机的控制命令发出脉冲式的光信号且记录发射时间。该光信号经测距仪耦合装置、环境量模拟系统、分路器、第一光波导传输至包括第二光波导和第三光波导的纵向距离分路器。激光测距仪接收经第二光波导、测距仪耦合装置传输的光信号并记录第一接收时间,及接收经第三光波导、测距仪耦合装置传输的光信号并记录第二接收时间。控制计算机根据第一接收时间和发射时间得到的实际测试距离、第二接收时间和发射时间得到的纵向测试距离、预设规则计算激光测距仪的性能参数。
搜索关键词: 激光 测距仪 性能参数 检测 方法
【主权项】:
一种激光测距仪的性能参数的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:测距仪调整平台将激光测距仪调整至能正常接收脉冲式的光信号的位置;控制计算机发送距离设置命令至切换控制模块,以供所述切换控制模块根据所述距离设置命令控制多路空间距离光波导系统设置有序的多个不同标定距离的第一光波导;所述控制计算机发送控制命令至所述激光测距仪,以控制所述激光测距仪发出脉冲式的光信号至测距仪耦合装置并记录发射时间;所述测距仪耦合装置对所述光信号进行聚焦耦合处理后传输至环境量模拟系统;所述光信号经所述环境量模拟系统传输至所述分路器,以供所述分路器将所述光信号分为第一路光信号和第二路光信号;所述第一路光信号经所述多路空间距离光波导系统的所述第一光波导传输至纵向距离分路器,所述纵向距离分路器包括第一传输距离的第二光波导和第二传输距离的第三光波导;所述激光测距仪接收经所述第二光波导、所述测距仪耦合装置传输的所述第一路光信号并记录第一接收时间,以及所述激光测距仪接收经所述第三光波导、所述测距仪耦合装置传输的所述第一路光信号并记录第二接收时间;所述激光测距仪根据所述发射时间和所述第一接收时间进行计算处理得到测试数据并反馈给控制计算机,控制计算机将测试数据进行计算处理得到实际测试距离,以及根据所述发射时间和所述第二接收时间进行计算处理得到测试数据并反馈给控制计算机,控制计算机将测试数据进行计算处理得到纵向测试距离;所述控制计算机根据所述实际测试距离、所述纵向测试距离和预设规则计算所述激光测距仪的性能参数。
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