[发明专利]激光测距仪的性能参数的检测方法在审
申请号: | 201510964486.5 | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN105352531A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 郑鸿章 | 申请(专利权)人: | 深圳市众望达光电有限公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 测距仪 性能参数 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及测距仪的性能参数检测技术领域,尤其涉及一种激光测距仪的性能参数的检测方法。
背景技术
激光测距仪的性能参数检测装置是民用和军用测距领域中重要的检测装置。激光测距仪的性能参数检测装置的长期稳定性、可靠性和安全性与测距系统的安全、稳定运行密切相关。
随着测距系统向远距离、高精度的方向发展,对测距系统提出了自动化,小型化、高可靠性的要求。目前测距系统中几乎没有专门的自动化测距系统检测装置。现有的检测方式包括如下两种:
第一种:通过用皮尺量出标靶到测距仪之间的距离,以及与测距仪检测到的其与标靶之间距离进行比较来判断测距仪的精度和误差。该测试方法无法排除地形,天气环境和人的误操作所带来的误差,且浪费了大量的人力,物力和时间,具有误差大,费用高,低效率,操作复杂等缺点。
第二种:通过棱镜多次反射来压缩光路传输距离来模拟不同的传输距离,在模拟出的传输距离的基础下测试测距仪的精度和误差。该测试方法具有稳定性弱,累计误差较大等缺点。因此,不能满足对测距仪的性能参数提出的可靠性高以及稳定好的要求。
发明内容
有鉴于此,实有必要提供一种可靠性高、精度高、抗干扰能力强、成本低的激光测距仪的性能参数的检测方法,此外,本发明能够模拟出不同的测试环境,以供测试者了解不同的测试环境对测试结果的影响。
一种激光测距仪的性能参数的检测方法,包括如下步骤:
测距仪调整平台将激光测距仪调整至能正常接收脉冲式的光信号的位置。
控制计算机发送距离设置命令至切换控制模块,以供切换控制模块根据距离设置命令控制多路空间距离光波导系统设置有序的多个不同标定距离的第一光波导。
控制计算机发送控制命令至激光测距仪,以控制激光测距仪发出脉冲式的光信号至测距仪耦合装置并记录发射时间。
测距仪耦合装置对光信号进行聚焦耦合处理后传输至环境量模拟系统。
光信号经环境量模拟系统传输至分路器,以供分路器将光信号分为第一路光信号和第二路光信号。
第一路光信号经多路空间距离光波导系统的第一光波导传输至纵向距离分路器,纵向距离分路器包括第一传输距离的第二光波导和第二传输距离的第三光波导。
激光测距仪接收经第二光波导、测距仪耦合装置传输的第一路光信号并记录第一接收时间,以及激光测距仪接收经第三光波导、测距仪耦合装置传输的第一路光信号并记录第二接收时间。
激光测距仪根据发射时间和第一接收时间进行计算处理得到测试数据并反馈给控制计算机,控制计算机将测试数据进行计算处理得到实际测试距离,以及根据发射时间和第二接收时间进行计算处理得到测试数据并反馈给控制计算机,控制计算机将测试数据进行计算处理得到纵向测试距离。
控制计算机根据实际测试距离、纵向测试距离和预设规则计算激光测距仪的性能参数。
优选地,测距仪调整平台将激光测距仪调整至能正常接收脉冲式的光信号的位置的步骤之前,还包括:
控制计算机发送环境模拟命令至环境量模拟系统,环境量模拟系统根据环境模拟命令模拟不同的环境。
优选地,性能参数包括测距精度和纵向分辨力。控制计算机根据实际测试距离、纵向测试距离和预设规则计算激光测距仪的性能参数的步骤包括:
控制计算机根据公式(1)计算测距精度,以及根据公式(2)计算纵向分辨力。
测距精度=实际测试距离-标定距离(1)。
纵向分辨力=纵向测试距离-实际测试距离(2)。
优选地,控制计算机发送控制命令至激光测距仪的步骤之前,还包括:
控制计算机接收外部输入的测试总数。
优选地,性能参数还包括准测率和测试效率。根据公式(2)计算纵向分辨力的步骤之后,还包括:
控制计算机判断测距精度是否大于预设精度,若测距精度小于等于预设精度,合格次数加1且测试次数加1,合格次数和测试次数的初始值为0。否则,测试次数加1。
控制计算机判断测试次数是否等于测试总数,若测试次数不等于测试总数,进行下一次测试,否则,获得测试时间和合格次数,根据公式(3)计算准测率以及根据公式(4)计算测试频率。
准测率=(合格次数/测试总数)*100%(3)。
测试频率=测试总数/测试时间(4)。
优选地,获得测试时间和合格次数,根据公式(3)计算准测率,以及根据公式(4)计算测试频率的步骤之后,还包括:
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