[发明专利]采用超声波快捷测定单晶材料的方法在审
| 申请号： | 201510962768.1 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105548357A | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 孙捷;王芹;黄碧芳;朱绍严;袁春 | 申请（专利权）人： | 贵州大学 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人： | 李亮;程新敏 |
| 地址： | 550025 贵州省贵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法，利用超声波穿过待测试样，再采集穿过试样后的底面回波，通过显示屏显示底面回波的波形，如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波，则确定待测试样为非单晶材料；反之则确定待测试样为单晶材料。本发明采用超声波穿过待测产品，通过观察超声波的反射波形，即可判断材料是否为单晶材料，这样便可显著提高现场产品检测效率，是一种经济适用的检测方法。本发明简单快捷、经济适用、检测效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 超声波 快捷 测定 材料 方法 | ||
【主权项】：
一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法，其特征在于：利用超声波穿过待测试样，再采集穿过试样后的底面回波，通过显示屏显示底面回波的波形，如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波，则确定待测试样为非单晶材料；反之则确定待测试样为单晶材料。
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