[发明专利]采用超声波快捷测定单晶材料的方法在审
| 申请号: | 201510962768.1 | 申请日: | 2015-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN105548357A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
| 发明(设计)人: | 孙捷;王芹;黄碧芳;朱绍严;袁春 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
| 主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
| 代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 李亮;程新敏 |
| 地址: | 550025 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 采用 超声波 快捷 测定 材料 方法 | ||
技术领域
本发明涉及检测技术领域,尤其是一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法。
背景技术
在当今军用发动机叶片及民用高端燃气轮机叶片,由于它们需要在高温高压下保持正常运行,因此通常都要求它们在铸造生产过程中形成一个单一的晶体,也就是单晶体,它没有晶界,从而避免了晶界在高温下容易软化导致材料的热强度下降,造成疲劳裂纹的产生进而大大降低其使用寿命。
因此在生产线上直接铸造出来的叶片,如果铸造工艺和成分控制不严,导致产品在结晶过程中出现不合格组织,即不是一个单晶体,同时晶界又存在某些杂质元素的聚集,这样的叶片就是不合格的产品,必须快捷地将其鉴别出来。对出现严重质量问题的产品的快速便捷排查。
通常鉴定叶片是否为单晶体一般都采用X射线衍射法,但这种方法所使用的设备比较昂贵,程序也比较复杂,对检测人员的专业技术要求也比较高,同时检测效率也很低,在工程化应用中受到一定的制约。
发明内容
本发明的目的是:提供一种采用超声波快捷测定单晶材料的方法,它能快速准确的判定材料是否为单晶材料,显著提高现场产品检测效率,且成本低廉。
本发明是这样实现的:采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。
本发明的原理:单晶材料的工件只由一个晶粒构成,因此超声波在其内部传播时不发生反射,但如果不是单晶,晶粒与晶粒之间就会存在晶界,晶界相对于晶粒就是一种界面,所以当超声波传播遇到晶界时就会发生一定程度的反射。
超声波从工件的一侧向另一侧传播的过程中,如果内部没有界面,超声波不会在内部发生任何反射,在超声波显示屏上只会出现底面回波,假如工件内部有界面,超声波就会在这些界面上发生反射,在显示屏上,表现为在底波之前会有一些较小的杂波出现。
检测时,在底波之前如果不出现任何回波,说明工件内部没界面,则该工件是单晶材料,但如果在底波之前出现回波,则工件内部有界面,说明该工件不是单晶材料。
由于采用了上述技术方案,与现有技术相比,本发明采用超声波穿过待测产品,通过观察超声波的反射波形,即可判断材料是否为单晶材料,以检测出材料中存在的严重的晶界缺陷,这样便可显著提高现场产品检测效率,是一种经济适用的检测方法。本发明简单快捷、经济适用、检测效率高。
附图说明
附图1为本发明检测到单晶材料的超声波回波波形示意图;
附图2为本发明检测到非单晶材料的超声波回波波形示意图。
具体实施方式
本发明的实施例:采用超声波快捷测定单晶材料的方法,利用超声波穿过待测试样,再采集穿过试样后的底面回波,通过显示屏显示底面回波的波形,如果显示的波形在底面回波前出现比底面回波小的杂波,则确定待测试样为非单晶材料;反之则确定待测试样为单晶材料。
申请人为了验证本发明的技术效果,从贵州斯莱克玛公司,抽取了100片生产好的、但是未经检验的飞机发动机叶片,采用本发明的方法对这100个样品进行检测,并记录检测结果;之后将这100个样品采用X射线衍射法进行检测,并记录检测结果,两种方法的检测结果进行对比,对于产品是否为单晶材料的结论,其检测结论完全一致,而采用本发明的方案所用的时间仅为8小时,而采用现有技术的方法法检测的时间为50小时。
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