[发明专利]一种暗室反射特性的测量方法和设备有效
| 申请号： | 201510956174.X | 申请日： | 2015-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN105486952B | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 康宁;韩玉峰;马蔚宇;齐万泉 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 黄熊 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁波信号 发射天线 反射特性 接收天线 暗室 方法和设备 反射信号 吸波材料 测量 墙面 接收天线位置 反射电磁波 测量暗室 反射损耗 发射 金属板 散射 反射 铺设 申请 | ||
【主权项】：
1.一种暗室反射特性的测量方法，其特征在于，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离相同且小于设定第一数值，其中根据发射天线和接收天线与暗室周围其他平面之间的距离确定设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值，其中确定所述发射天线发射的电磁波信号被所述接收天线全部吸收的信号传输路径，将所述传输路径对应的长度值作为所述设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，包括：将所述第一反射信号和所述第二电磁波信号进行频域变换，通过以下方式计算得到所述暗室的反射特性：Γ(dB)＝E1(dB)‑E2(dB)，其中，Γ为计算得到所述暗室的反射特性，E1为第一反射信号，E2为第二电磁波信号；其中，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所，未经北京无线电计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510956174.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
