[发明专利]一种暗室反射特性的测量方法和设备

说明书

本申请公开了一种暗室反射特性的测量方法和设备，包括：控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号；调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的反射损耗，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。

技术领域

本申请涉及电磁技术领域，尤其涉及一种暗室反射特性的测量方法和设备。

背景技术

为了保证电磁兼容试验的有效性，需要对电磁兼容试验结果的影响因素进行分析。然而，试验场地(又可称之为电磁兼容暗室)性能的好坏是影响电磁兼容试验结果的重要因素。

常用的试验场地是由墙面铺设吸波材料的屏蔽室建成的。屏蔽室内墙面吸波材料的反射特性(又可以称之为暗室反射特性)影响试验场地的性能，也就是说，屏蔽室内墙面吸波材料的反射特性影响电磁兼容试验结果。

其中，暗室反射特性表征暗室墙面内铺设的不同性能的吸波材料对不同频率的电磁波的反射损耗。

通过对暗室反射特性的测量可以确定屏蔽室内墙面吸波材料的反射特性对电磁兼容试验结果的影响大小，常用的测量方法包括拱形法。

具体地，对暗室反射特性的测量可以看做是测量吸波材料对电磁波的反射损耗。在使用拱形法测量吸波材料对电磁波的反射损耗时，一般需要执行两次测量操作：第一次是测量电磁波被吸波材料反射产生的第一反射信号，第二次是测量该电磁波被金属板反射产生的第二反射信号，通过第一反射信号与第二反射信号之间的能量差，即可确定吸波材料对电磁波的反射损耗，进而得到暗室反射特性。

在实际应用中发现，一旦暗室建成，采用上述方式测量暗室的反射特性存在以下问题：

在测量暗室的反射特性的过程中，需要在吸波材料墙面的前面放置金属板，但是由于金属板的尺寸有限，导致在金属板的边缘出现电磁波散射，影响测量暗室反射特性的准确性。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供的一种暗室反射特性的测量方法和设备，用于解决现有技术中暗室反射特性的测量结果不准确的问题。

一种暗室反射特性的测量方法，包括：

控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对；

调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；

控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同；

根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，其中，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的的反射损耗。

一种暗室反射特性的测量设备，包括：

信号发射单元，用于控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对；