[发明专利]压环、预清洗腔室及半导体加工设备有效

专利信息
申请号: 201510922012.4 申请日: 2015-12-14
公开(公告)号: CN106876315B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 徐奎;李冬冬;陈鹏 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/687 分类号: H01L21/687;H01L21/67
代理公司: 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 代理人: 左文;段志慧
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供的压环、预清洗腔室及半导体加工设备,其应用在预清洗腔室中,在该预清洗腔室内设置有基座,该基座包括用于承载晶片的承载面。压环用于利用自身重力压住晶片上表面的边缘区域,从而实现对所述晶片的固定;并且,通过向承载面与晶片的下表面之间输送冷却气体,来冷却晶片。并且,压环包括负重体和绝缘体,其中,负重体采用金属制作,以在输送冷却气体时,使压环的整体重量足以承受承载面与晶片下表面之间的气压。绝缘体包覆负重体,以避免等离子体轰击负重体。本发明提供的压环,其可以避免晶片的温度过高,从而不仅可以保证晶片质量,而且还可以缩短在完成预清洗工艺之后需要冷却晶片的时间,进而可以提高设备产能。
搜索关键词: 压环 清洗 半导体 加工 设备
【主权项】:
一种压环,其特征在于,应用在预清洗腔室中,在所述预清洗腔室内设置有基座,所述基座包括用于承载晶片的承载面;所述压环用于利用自身重力压住晶片上表面的边缘区域,从而实现对所述晶片的固定;并且,通过向所述承载面与所述晶片的下表面之间输送冷却气体,来冷却所述晶片;所述压环包括负重体和绝缘体,其中,所述负重体采用金属制作,以在输送冷却气体时,使所述压环的整体重量足以承受所述承载面与所述晶片下表面之间的气压;所述绝缘体包覆所述负重体,以避免等离子体轰击所述负重体。
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