[发明专利]一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法，属于信号测试领域，包括八路射频及中频通道，八路射频及中频通道连接有FPGA控制器和测量显示单元；通过各路射频通道，生成846.4MHz的模拟信号和153.6MHz的模拟中频信号，通过各路中频通道，进行模数转换，通过FPGA控制器对最佳采样数据进行时域分析、频域分析以及调制域分析，通过测量显示单元判断测试结果是否满足期望需求。本发明通过对八路射频数据、八路中频数据的分别处理，实现非信令情况下多天线，连续及非连续载波聚合的TD_LTE_Advanced基站信号的快速分析，简化了测试手段，提高了测试效率。

主权项

1.一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析方法，其特征在于：采用一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置，包括八路射频及中频通道，八路射频及中频通道连接有FPGA控制器和测量显示单元；各路射频通道均包括第一本振阵列单元、第二本振阵列单元、第一混频单元和第二混频单元；各路中频通道均包括A/D控制单元；各路射频及中频通道中，第一本振阵列单元的输出端与第一混频单元的输入端相连，第一混频单元的输出端与第二本振阵列单元的输出端和第二混频单元的输入端相连，第二混频单元的输出端与A/D控制单元的输入端相连，A/D控制单元的输出端与FPGA控制器的输入端相连；所述FPGA控制器的输出端与测量显示单元的输入端相连；具体按照如下步骤进行：步骤1：TD_LTE_Advanced基站信号分析装置通过射频连接线连接有TD_LTE_Advanced基站，上位机通过串口和GPIB端口分别控制TD_LTE_Advanced基站和TD_LTE_Advanced基站信号分析装置，完成测试前的准备工作；步骤2：上位机通过GPIB控制指令对TD_LTE_Advanced基站信号分析装置配置频率，配置频率为：F_B0、F_B1、F_B2、F_B3、F_B4、F_B5、F_B6、F_B7，并配置第一本振阵列单元的频率，配置频率为：F_B0+846.4MHz、F_B1+846.4MHz、F_B2+846.4MHz、F_B3+846.4MHz、F_B4+846.4MHz、F_B5+846.4MHz、F_B6+846.4MHz、F_B7+846.4MHz，同时配置第二本振阵列单元的频率，配置频率为1GHz；步骤3：上位机通过GPIB控制指令对TD_LTE_Advanced基站信号分析装置配置中频采样时钟频率，配置频率为245.76Mbps，用于A/D控制单元的数据采样；步骤4：上位机通过AT指令控制对TD_LTE_Advanced基站配置基带信号，所述基带信号通过不同的基站天线进入八路射频通道，每一路信号经过第一本振阵列单元混频输出846.4MHz模拟信号，再经过第二本振阵列单元混频输出153.6MHz的模拟中频信号，之后进入A/D控制单元进行模数转换；步骤5：上位机通过GPIB指令对TD_LTE_Advanced基站信号分析装置的八路射频通道分别配置中心频率，为：F0、F1、F2、F3、F4、F5、F6、F7；步骤6：通过FPGA控制器的最佳采样点模块并通过位同步提取最佳采样数据；步骤7：在FPGA控制器内部分别设置独立并行处理空间；步骤8：通过FPGA控制器的时域分析模块对最佳采样数据进行时域分析；步骤9：通过FPGA控制器的频域分析模块对最佳采样数据进行频域分析；步骤10：根据用户配置对时域数据、频域数据进行平均值检波或者均方根检波，并将检波后的功率进行存储；步骤11：在FPGA控制器内部根据最佳采样数据中的I/Q数据的自相关性及互相关性，获取无线帧的起始点并进行频偏误差的计算；步骤12：根据TD_LTE_Advanced基站的配置，对相关射频通道内的频域数据进行拟合；步骤13：通过测量显示单元的测量门限判断测试结果是否满足期望需求。