[发明专利]一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法

说明书

本发明公开了一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法，属于信号测试领域，包括八路射频及中频通道，八路射频及中频通道连接有FPGA控制器和测量显示单元；通过各路射频通道，生成846.4MHz的模拟信号和153.6MHz的模拟中频信号，通过各路中频通道，进行模数转换，通过FPGA控制器对最佳采样数据进行时域分析、频域分析以及调制域分析，通过测量显示单元判断测试结果是否满足期望需求。本发明通过对八路射频数据、八路中频数据的分别处理，实现非信令情况下多天线，连续及非连续载波聚合的TD_LTE_Advanced基站信号的快速分析，简化了测试手段，提高了测试效率。

技术领域

本发明属于信号测试领域，具体涉及一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法。

背景技术

随着TD_LTE_Advanced技术的深入推进，多载波、多天线技术发展的逐渐成熟，作为基站研发、生产及出厂认证中的关键一环，基站测试越来越受到基站开发商、基站生产商以及运营商的关注，基站测试仪器应运而生。对于TD_LTE_Advanced技术中，大带宽、多天线的技术要求，传统的测试方法通常采用多台仪表组成的测试系统进行测试，不仅测试速度较慢，而且在跨载波调度时，组合频谱也会出现测试不准确的问题，需要建立非信令连接，不利于基站的研发和生产。

发明内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本发明提出了一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置及方法，设计合理，克服了现有技术的不足，提高了测试效率。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置，

包括八路射频及中频通道，八路射频及中频通道连接有FPGA控制器和测量显示单元；各路射频通道均包括第一本振阵列单元、第二本振阵列单元、第一混频单元和第二混频单元；各路中频通道均包括A/D控制单元；

各路射频及中频通道中，第一本振阵列单元的输出端与第一混频单元的输入端相连，第一混频单元的输出端与第二本振阵列单元的输出端和第二混频单元的输入端相连，第二混频单元的输出端与A/D控制单元的输入端相连，A/D控制单元的输出端与FPGA控制器的输入端相连；所述FPGA控制器的输出端与测量显示单元的输入端相连。

优选地，所述FPGA控制器内设置有最佳采样点模块、时域分析模块、频域分析模块及调制域分析模块，所述最佳采样点模块分别与时域分析模块、频域分析模块以及调制域分析模块相连。

优选地，所述FPGA控制器的输入数据速率为245.76Mbps。

此外，本发明还提到一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析方法，该方法采用所述的一种基于非信令的TD_LTE_Advanced基站信号分析装置，按照如下步骤进行：

步骤1：TD_LTE_Advanced基站信号分析装置通过射频连接线连接有TD_LTE_Advanced基站，上位机通过串口和GPIB端口分别控制TD_LTE_Advanced基站和TD_LTE_Advanced基站信号分析装置，完成测试前的准备工作；

步骤2：上位机通过GPIB控制指令对TD_LTE_Advanced基站信号分析装置配置频率，配置频率为：F_B0、F_B1、F_B2、F_B3、F_B4、F_B5、F_B6、F_B7，并配置第一本振阵列单元的频率，配置频率为：F_B0+846.4MHz、F_B1+846.4MHz、F_B2+846.4MHz、F_B3+846.4MHz、F_B4+846.4MHz、F_B5+846.4MHz、F_B6+846.4MHz、F_B7+846.4MHz，同时配置第二本振阵列单元的频率，配置频率为1GHz；