[发明专利]一种光谱角匹配中阈值选取的方法在审
| 申请号： | 201510883943.8 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN106846291A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 邱骏挺;张川;徐清俊 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10 |
| 代理公司： | 核工业专利中心11007 | 代理人： | 闫兆梅 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于高光谱遥感数字填图技术领域，具体公开一种光谱角匹配中阈值选取的方法，该方法包括如下步骤步骤1，对遥感数据的预处理，获得目标地物的反射率光谱数据；步骤2，获取目标地物的参考光谱；步骤3，获得遥感图像中的像元光谱与上述步骤2中的参考光谱之间的广义光谱角；步骤4对上述步骤3中的广义光谱角求取余弦值，进而获得余弦值图像；步骤5，统计上述步骤4中光谱角余弦值图像的灰度；步骤6，确定上述步骤5中统计灰度后的光谱角余弦值图像的异常下限和最大光谱角；步骤7，对上述步骤6中获得的最大光谱角进行填图。该方法能够增加填图结果的客观性和提高填图效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 匹配 阈值 选取 方法 | ||
【主权项】：
一种光谱角匹配中阈值选取的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤1，对遥感数据的预处理，获得目标地物的反射率光谱数据；步骤2，获取目标地物的参考光谱；步骤3，获得遥感图像中的像元光谱与上述步骤2中的参考光谱之间的广义光谱角；步骤4，对上述步骤3中的广义光谱角求余弦值，进而获得余弦值图像；步骤5，统计上述步骤4中光谱角余弦值图像的灰度；步骤6，确定上述步骤5中统计灰度后的光谱角余弦值图像的异常下限和最大光谱角；步骤7，对上述步骤6中获得的最大光谱角进行填图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于核工业北京地质研究院，未经核工业北京地质研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510883943.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
