[发明专利]一种光谱角匹配中阈值选取的方法在审

专利信息
申请号: 201510883943.8 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN106846291A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 邱骏挺;张川;徐清俊 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 闫兆梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 匹配 阈值 选取 方法
【权利要求书】:

1.一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

步骤1,对遥感数据的预处理,获得目标地物的反射率光谱数据;

步骤2,获取目标地物的参考光谱;

步骤3,获得遥感图像中的像元光谱与上述步骤2中的参考光谱之间的广义光谱角;

步骤4,对上述步骤3中的广义光谱角求余弦值,进而获得余弦值图像;

步骤5,统计上述步骤4中光谱角余弦值图像的灰度;

步骤6,确定上述步骤5中统计灰度后的光谱角余弦值图像的异常下限和最大光谱角;

步骤7,对上述步骤6中获得的最大光谱角进行填图。

2.根据权利要求1所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤1中对目标地物的高光谱遥感影像数据进行预处理,预处理包括辐射校正、几何校正、影像裁剪、图像掩膜,并对遥感数据进行大气校正和光谱重建,得到目标地物的反射率光谱数据。

3.根据权利要求2所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤2中获取目标地物参考光谱采用光谱仪、光谱库、遥感图像三种方法中的一种。

4.根据权利要求3所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤2中通过采用光谱仪、光谱库获取的光谱利用ENVI提供的光谱重采样工具进行重采样操作,获得与遥感图像波段相匹配的光谱曲线。

5.根据权利要求4所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤3中运用ENVI软件求取广义光谱角并保存为Rule Images文件。

6.根据权利要求5所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于: 所述的步骤4中对步骤3获得的Rule Images求余弦值。进而获得光谱角余弦值图像。

7.根据权利要求6所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤5中用ENVI软件的密度分割工具对步骤4中生成的余弦值图像进行密度分割操作,将余弦值图像的灰度分割不同级别,之后将分割结果保存为EVNI类图像,最后用ENVI软件的类统计工具对不同灰度级别的像元数量进行统计,将统计结果保存为文本文件。

8.根据权利要求7所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于,所述的步骤6中确定光谱角余弦值图像的异常下限和最大光谱角的具体方法如下:

将步骤5中获得的文本文件导入到Excel软件中,以i代表第i个灰度级别,xi代表该灰度级别的上限灰度值,假定N为余弦值图像的总像元数,nd为第d个灰度级别包含的像元数量,则有:

<mrow><msub><mi>y</mi><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><mi>N</mi><mo>-</mo><msubsup><mi>&Sigma;</mi><mrow><mi>d</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>i</mi></msubsup><msub><mi>n</mi><mi>d</mi></msub></mrow>

对xi和yi分别取以10为底的对数,然后在Excel中绘制lg(xi)-lg(yi)图解,运用最小二乘法将图解中的曲线做分段拟合,选择第一段和第二段拟合的直线方程求解,获得灰度值的异常下限,将异常下限对应的xi求反余弦获得最大光谱角。

9.根据权利要求8所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于,所述的步骤7中用EVNI软件提供的光谱角填图工具将上述步骤6中获得的最大光谱角作为参数进行填图。

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