[发明专利]一种光谱角匹配中阈值选取的方法在审
| 申请号: | 201510883943.8 | 申请日: | 2015-12-04 |
| 公开(公告)号: | CN106846291A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
| 发明(设计)人: | 邱骏挺;张川;徐清俊 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/10 |
| 代理公司: | 核工业专利中心11007 | 代理人: | 闫兆梅 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光谱 匹配 阈值 选取 方法 | ||
1.一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
步骤1,对遥感数据的预处理,获得目标地物的反射率光谱数据;
步骤2,获取目标地物的参考光谱;
步骤3,获得遥感图像中的像元光谱与上述步骤2中的参考光谱之间的广义光谱角;
步骤4,对上述步骤3中的广义光谱角求余弦值,进而获得余弦值图像;
步骤5,统计上述步骤4中光谱角余弦值图像的灰度;
步骤6,确定上述步骤5中统计灰度后的光谱角余弦值图像的异常下限和最大光谱角;
步骤7,对上述步骤6中获得的最大光谱角进行填图。
2.根据权利要求1所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤1中对目标地物的高光谱遥感影像数据进行预处理,预处理包括辐射校正、几何校正、影像裁剪、图像掩膜,并对遥感数据进行大气校正和光谱重建,得到目标地物的反射率光谱数据。
3.根据权利要求2所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤2中获取目标地物参考光谱采用光谱仪、光谱库、遥感图像三种方法中的一种。
4.根据权利要求3所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤2中通过采用光谱仪、光谱库获取的光谱利用ENVI提供的光谱重采样工具进行重采样操作,获得与遥感图像波段相匹配的光谱曲线。
5.根据权利要求4所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤3中运用ENVI软件求取广义光谱角并保存为Rule Images文件。
6.根据权利要求5所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于: 所述的步骤4中对步骤3获得的Rule Images求余弦值。进而获得光谱角余弦值图像。
7.根据权利要求6所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于:所述的步骤5中用ENVI软件的密度分割工具对步骤4中生成的余弦值图像进行密度分割操作,将余弦值图像的灰度分割不同级别,之后将分割结果保存为EVNI类图像,最后用ENVI软件的类统计工具对不同灰度级别的像元数量进行统计,将统计结果保存为文本文件。
8.根据权利要求7所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于,所述的步骤6中确定光谱角余弦值图像的异常下限和最大光谱角的具体方法如下:
将步骤5中获得的文本文件导入到Excel软件中,以i代表第i个灰度级别,xi代表该灰度级别的上限灰度值,假定N为余弦值图像的总像元数,nd为第d个灰度级别包含的像元数量,则有:
对xi和yi分别取以10为底的对数,然后在Excel中绘制lg(xi)-lg(yi)图解,运用最小二乘法将图解中的曲线做分段拟合,选择第一段和第二段拟合的直线方程求解,获得灰度值的异常下限,将异常下限对应的xi求反余弦获得最大光谱角。
9.根据权利要求8所述的一种光谱角匹配中阈值选取的方法,其特征在于,所述的步骤7中用EVNI软件提供的光谱角填图工具将上述步骤6中获得的最大光谱角作为参数进行填图。
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