[发明专利]一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法在审

专利信息
申请号: 201510852092.0 申请日: 2015-11-30
公开(公告)号: CN105466958A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 李青林;毛罕平;左志宇;倪纪恒;张晓东;孙俊 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01N23/223
代理公司: 江苏纵联律师事务所 32253 代理人: 蔡栋
地址: 212013 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置确定的方法,首先借助扫描电子显微系统采集番茄叶片表面和断面的显微结构图像,通过对表面微结构进行观察和统计分析得到叶片正反面绒毛、维管束、气孔的几何尺寸和分布密度;根据测量可靠和准确的原则确定探针在叶面的穿刺位置;在扫描电子显微系统下观察叶片断面结构特征,并借助能谱测量技术分析各元素叶片厚度方向的分布;最后根据元素分布特征,选择分布浓度高的组织,作为探头的测量位置。本发明采用利用扫面电子显微技术和能谱技术相结合的方法,确定了叶片内部离子浓度测量时探头的最佳穿刺位置和穿刺深度,以提高测量的准确度,可应用于测量叶片内部离子浓度。
搜索关键词: 一种 测量 叶片 内部 离子 浓度 探头 穿刺 位置 确定 方法
【主权项】:
一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一:避开主脉切取叶片得叶片样品,叶片样品大小为2cm*2cm,并用固定液对所取叶片样品进行固定;步骤二:制备扫描电镜样品,并设置仪器参数并观察;步骤三:观察分析叶片样品表面结构;步骤四:确定探头最佳穿刺位置;步骤五:观察叶片样品的断面结构;步骤六:获取镁、钾和钙元素在叶片样品组织中的纵向分布状况;步骤七:确定最佳的穿刺位置和穿刺深度。
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