[发明专利]一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法在审

专利信息
申请号: 201510852092.0 申请日: 2015-11-30
公开(公告)号: CN105466958A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 李青林;毛罕平;左志宇;倪纪恒;张晓东;孙俊 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01N23/223
代理公司: 江苏纵联律师事务所 32253 代理人: 蔡栋
地址: 212013 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 叶片 内部 离子 浓度 探头 穿刺 位置 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于包括以下步骤:

步骤一:避开主脉切取叶片得叶片样品,叶片样品大小为2cm*2cm,并用固定液对所取叶片样品进行固定;

步骤二:制备扫描电镜样品,并设置仪器参数并观察;

步骤三:观察分析叶片样品表面结构;

步骤四:确定探头最佳穿刺位置;

步骤五:观察叶片样品的断面结构;

步骤六:获取镁、钾和钙元素在叶片样品组织中的纵向分布状况;

步骤七:确定最佳的穿刺位置和穿刺深度。

2.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤一中固定液为浓度为4%的戊二醛固定液对所取叶片样品进行固定。

3.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤二具体为:将步骤一所得的叶片样品经乙醇阶梯脱水后,放入由英国Quorum公司生产的K850型临界点干燥仪中进行干燥处理,将制备好的叶片样品粘在导电胶上,放入由日本SHINKKUVD公司生产的MSP-1S型离子溅射仪中进行镀膜,溅射金属厚度为20nm,然后将处理好的叶片样品粘贴在由美国fei公司生产的quanta200型扫描电镜的样品台上,在15kV加速电压下进行观察,拍照。

4.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤三具体为:在扫描电子显微系统下,选择不同区域10个视野观察叶片样品表面微结构,包括绒毛、维管束、气孔、和表皮细胞的分布密度和几何尺寸,进行测量和统计分析,得出叶片样品表面绒毛、维管束、气孔、表皮细胞的分布密度和几何尺寸。

5.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤四具体为:根据步骤三中观察得的叶片样品表面微结构,根据绒毛密度和维管束的分布特征,结合探头几何尺寸和材料参数特征,选择叶片背面避开维管束的位置作为探头穿刺位置。

6.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤五具体为:在扫描电镜下观察叶片样品断面层,测量表皮、栅栏组织、海绵组织和整个叶片厚度;选取典型视野进行拍照;每个叶片样品电镜观察统计至少10个视野,取平均值。

7.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤六具体为:借助能谱测量系统,在叶片样品断面层内,分别对栅栏组织和海绵组织进行全谱智能面扫描后得到镁、钾和钙元素在叶片样品组织中的纵向分布状况。

8.根据权利要求1所述一种测量叶片内部离子浓度时探头穿刺位置的确定方法,其特征在于所述步骤七具体为:根据叶片样品正反表面绒毛、维管束、气孔的几何尺寸和分布密度,确定探头从叶片反面穿刺进入叶片的位置;根据叶片样品中镁、钾和钙元素在叶片样品组织中的纵向分布位置确定测量Mg2+,K+,和Ca2+离子浓度时对应的探头穿刺深度。

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