[发明专利]半导体装置及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201510828056.0 申请日: 2015-11-24
公开(公告)号: CN105655399A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 青岛金智高新技术有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 青岛申达知识产权代理有限公司 37243 代理人: 蒋遥明
地址: 266000 山东省青岛市*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开一种半导体装置及其制作方法。半导体装置包括鳍状突起结构、绝缘结构、栅极结构、以及外延结构。鳍状突起结构延伸出基板的表面且具有一顶面以及二侧面。绝缘结构环绕鳍状突出结构。栅极结构包覆部分鳍状突起结构的顶面以及二侧面,以及覆盖部分绝缘结构。其中位于栅极结构下方的绝缘结构具有一第一顶面,位于栅极结构两侧的绝缘结构具有一第二顶面,且第一顶面与高于第二顶面。外延结构设置于栅极结构的一侧且直接接触鳍状突起。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体装置,包括:鳍状突起结构,延伸出于一基板的一表面,其中该鳍状突起结构具有一顶面以及二侧面;绝缘结构,环绕该鳍状突出结构;栅极结构,包覆部分该鳍状突起结构的该顶面以及该些侧面,以及覆盖部分该绝缘结构,其中位于该栅极结构下方的该绝缘结构具有一第一顶面,位于该栅极结构两侧的该绝缘结构具有一第二顶面,且该第一顶面与高于该第二顶面;以及外延结构,设置于该栅极结构的一侧,且直接接触该鳍状突起结构。
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