[发明专利]一种高性能多孔硅基薄膜及其制备方法在审
申请号: | 201510810058.7 | 申请日: | 2015-11-23 |
公开(公告)号: | CN105347294A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 陈桂兴 | 申请(专利权)人: | 陈桂兴 |
主分类号: | B81B7/02 | 分类号: | B81B7/02;B81C1/00 |
代理公司: | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人: | 袁周珠 |
地址: | 511545 广东省清远*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种高性能多孔硅基薄膜及其制备方法,属于薄膜制备技术领域;其中原料的各组分的重量份为P型单晶硅片70~75份、氢氟酸100~120份、乙醇100~120份、氧化钒4~8份、氧化钨2~4份,其制备方法为将氢氟酸和乙醇混合,然后将硅片浸泡在混合液中,电解腐蚀25~30min得多孔硅基片;将氧化钒磁控溅射在基片表面,厚度为0.15~0.25cm;再在表面溅射厚度为0.1~0.15cm的氧化钨层,即得成品;该薄膜性能优越,应用范围广,可根据需求再镀上不同的材料的薄层应用在不同的微机电系统传感器上;制得的薄膜致密,与衬底粘附性好,面积大且均匀,具有良好的绝热性能,且工艺条件容易控制,成本低廉,适于工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 性能 多孔 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种高性能多孔硅基薄膜,其特征在于:原料各组分的重量份为:P型单晶硅片70~75份、氢氟酸100~120份、乙醇100~120份、氧化钒4~8份、氧化钨2~4份。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陈桂兴,未经陈桂兴许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510810058.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:气动阀阀座拆装扳手
- 下一篇:陶瓷填料的金刚石磨具