[发明专利]暗室式安检设备以及方法有效

专利信息
申请号: 201510796132.4 申请日: 2015-11-18
公开(公告)号: CN105277577B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 张清军;李元景;陈志强;赵自然;朱伟平;刘耀红;马秋峰;邹湘;何会绍;常建平;梁松 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046;G01N30/88;G01N27/62;G01V11/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 胡良均
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种暗室式安检设备和使用该安检设备进行检查的方法。暗室式安检设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件,壳体内部的部件包括:采样系统,采样系统包括传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置,其中X射线检测装置用于确定被检物体在到达采样系统内的相应位置,以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置;样品处理系统;其中,采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样和检测,不拆包,不破坏待检物品,适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。
搜索关键词: 安检设备 采样系统 暗室 样品处理系统 传送装置 壳体内部 检测 违禁物品 样品采集装置 样品检测系统 快速筛查 物体传送 连接件 有效地 密闭 拆包 壳体 取样 连通 采集 期望 海关 机场 检查
【主权项】:
1.一种暗室式安检设备,包括构成密闭的暗室的壳体和以下部件:采样系统,采样系统包括用以将被检物体从外界传送至样品采集装置内的传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置,其中X射线检测装置用于确定被检物体在采样系统内的位置,以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置;样品处理系统,用于浓缩样品和解析样品;和样品检测系统,通过气相色谱‑离子迁移谱仪或单独的离子迁移谱仪检测样品成分;其中,采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通,使得被送入构成密闭的暗室的壳体内的被检物体在壳体内完成样品的采集、处理和检测;其中,所述样品处理系统、样品检测系统以及采样系统的样品采集装置、X射线检测装置位于所述壳体内部,所述采样系统的传送装置至少部分地位于壳体内部。
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