[发明专利]暗室式安检设备以及方法

权利要求书

1.一种暗室式安检设备，包括构成密闭的暗室的壳体和以下部件：

采样系统，采样系统包括用以将被检物体从外界传送至样品采集装置内的传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置，其中X射线检测装置用于确定被检物体在采样系统内的位置，以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置；

样品处理系统，用于浓缩样品和解析样品；和

样品检测系统，通过气相色谱-离子迁移谱仪或单独的离子迁移谱仪检测样品成分；

其中，采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通，使得被送入构成密闭的暗室的壳体内的被检物体在壳体内完成样品的采集、处理和检测；

其中，所述样品处理系统、样品检测系统以及采样系统的样品采集装置、X射线检测装置位于所述壳体内部，所述采样系统的传送装置至少部分地位于壳体内部。

2.如权利要求1所述的暗室式安检设备，其中X射线检测装置包括用以发射X射线的X射线发生器、用于探测X射线的探测器以及显示装置，X射线检测装置用于探测穿透被检物体后的剩余X射线以显示被检物体在采样系统内的位置同时显示被检物内部的包含物。

3.如权利要求1所述的暗室式安检设备，其中采样系统的传送装置包括传送带和传送带牙套，传送带的两侧边缘和传送带牙套配置成配合结构，使得传送带牙套允许传送带移动并且在传送带不动的状态下与传送带构成密封结构。

4.如权利要求3所述的暗室式安检设备，其中传送带牙套由可变形材料形成，在传送带不动的状态下，由于暗室的壳体内形成负压，传送带牙套变形与传送带形成密封。

5.如权利要求1所述的暗室式安检设备，样品采集装置包括采样腔体，采样腔体具有第一端和与第一端相对的第二端，其中所述传送装置位于第一端，并且采样腔体还包括第二端附近的排出样品的样品出口；

其中，采样腔体还包括位于采样腔体的壁内的充气入口和排气口，充气入口配置成向采样腔体内吹入气流，排气口配置成排出气体，以便与充气入口一起在采样腔体内形成龙卷风式气流，所述龙卷风式气流沿从采样腔体的第一端至第二端螺旋式前进，由此被检物体携带的样品通过龙卷风式气流被传送至第二端附近。

6.如权利要求5所述的暗室式安检设备，充气入口配置成使得充气入口的轴向进气方向与腔体内壁的内表面接近相切，并且充气入口的轴向进气方向朝向样品出口侧倾斜，从而从充气入口排出的气流形成旋转气流。

7.如权利要求5所述的暗室式安检设备，至少部分采样腔体的内壁被形成为截头圆锥形形状，截头圆锥形内壁的小直径圆形端靠近腔体的第一端，并且截头圆锥形内壁的大直径圆形端靠近第二端。

8.如权利要求1所述的暗室式安检设备，采样系统包括加热滤网，用于在样品从第一端朝向第二端传送时对样品过滤，同时能够加热被检物体以帮助被检物体携带的样品挥发或脱离被检物体。

9.如权利要求1所述的暗室式安检设备，采样系统包括半透膜用于选择性过滤样品，并且半透膜在采样腔体内分隔出用于与载气混合的空间。

10.如权利要求1所述的暗室式安检设备，样品处理系统包括预浓缩采样吸附器，包括用于浓缩样品的吸附筛筒和用于将吸附筛筒中的样品通过活塞送出的活塞杆；和

热解析腔，用于在高温下析出吸附筛筒中的样品，并使用合适载气与样品混合。

11.如权利要求1所述的暗室式安检设备，样品检测系统包括用于预分离样品的多孔毛细管柱，和离子迁移谱仪。

12.一种使用暗室式安检设备对被物体进行检查的方法，包括：

将被检物体放置于传送装置，并通过传送装置送入暗室式安检设备中；

使用如前述权利要求中任一项所述的暗室式安检设备对被检物体实施检查。