[发明专利]电子设备的耗电测试方法及装置有效
| 申请号： | 201510780093.9 | 申请日： | 2015-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN105372527B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 关亮 | 申请（专利权）人： | 北京金山安全软件有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种电子设备的耗电测试方法及装置。其中，该方法包括：生成与电子设备对应的特定耗电测试场景模型，其中，特定耗电测试场景模型包括多个应用程序类别及每个应用程序类别对应的测试时间；获取每个应用程序类别对应的应用程序并安装至待测电子设备；在待测电子设备中启动每个应用程序类别对应的应用程序并运行各自对应的测试时间，以测试电子设备的耗电情况。该实施例的电子设备的耗电测试方法及装置，通过特定耗电测试场景模型来确定耗电测试中的应用程序类别和应用程序类别所对应的测试时间，增强了耗电测试中的用户场景，使得耗电测试可以准确测试出待测电子设备的耗电情况，进而可方便后续为用户提供电子设备耗电情况。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 耗电 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备的耗电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：生成与所述电子设备对应的特定耗电测试场景模型，其中，所述特定耗电测试场景模型包括多个应用程序类别及每个应用程序类别对应的测试时间；获取每个所述应用程序类别对应的应用程序并安装至待测电子设备；在所述待测电子设备中启动所述每个所述应用程序类别对应的应用程序并运行各自对应的测试时间，以测试所述电子设备的耗电情况；所述生成与所述电子设备对应的特定耗电测试场景模型具体包括：根据应用程序商店中应用程序的流行广度和用户的应用程序运行频率生成所述特定耗电测试场景模型。
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