[发明专利]电子设备的耗电测试方法及装置有效
| 申请号: | 201510780093.9 | 申请日: | 2015-11-13 |
| 公开(公告)号: | CN105372527B | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
| 发明(设计)人: | 关亮 | 申请(专利权)人: | 北京金山安全软件有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R21/00 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
| 地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子设备 耗电 测试 方法 装置 | ||
1.一种电子设备的耗电测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
生成与所述电子设备对应的特定耗电测试场景模型,其中,所述特定耗电测试场景模型包括多个应用程序类别及每个应用程序类别对应的测试时间;
获取每个所述应用程序类别对应的应用程序并安装至待测电子设备;
在所述待测电子设备中启动所述每个所述应用程序类别对应的应用程序并运行各自对应的测试时间,以测试所述电子设备的耗电情况;
所述生成与所述电子设备对应的特定耗电测试场景模型具体包括:
根据应用程序商店中应用程序的流行广度和用户的应用程序运行频率生成所述特定耗电测试场景模型。
2.如权利要求1所述的电子设备的耗电测试方法,其特征在于,所述获取每个所述应用程序类别对应的应用程序并安装至待测电子设备具体包括:
根据应用程序商店中应用程序的流行广度和对应的应用程序类别获取流行度最高的应用程序,并安装至所述待测电子设备。
3.如权利要求1所述的电子设备的耗电测试方法,其特征在于,还包括:
获取每个应用程序类别对应的耗电信息并展现给用户。
4.一种电子设备的耗电测试装置,其特征在于,包括:
生成模块,用于生成与所述电子设备对应的特定耗电测试场景模型,其中,所述特定耗电测试场景模型包括多个应用程序类别及每个应用程序类别对应的测试时间;
安装模块,用于获取每个所述应用程序类别对应的应用程序并安装至待测电子设备;
测试模块,用于在所述待测电子设备中启动所述每个所述应用程序类别对应的应用程序并运行各自对应的测试时间,以测试所述电子设备的耗电情况;
所述生成模块,具体用于:
根据应用程序商店中应用程序的流行广度和用户的应用程序运行频率生成所述特定耗电测试场景模型。
5.如权利要求4所述的电子设备的耗电测试装置,其特征在于,所述安装模块,具体用于:
根据应用程序商店中应用程序的流行广度和对应的应用程序类别获取流行度最高的应用程序,并安装至所述待测电子设备。
6.如权利要求4所述的电子设备的耗电测试装置,其特征在于,还包括:
处理模块,用于获取每个应用程序类别对应的耗电信息并展现给用户。
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