[发明专利]测量系统及其光学元件在审
| 申请号： | 201510779180.2 | 申请日： | 2015-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN105223149A | 公开（公告）日： | 2016-01-06 |
| 发明（设计）人： | 邓文平;赵辉 | 申请（专利权）人： | 苏州谱道光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 党晓林 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量系统及其光学元件，所述测量系统包括具有光源、光学元件、检测单元的测量装置，其中，所述光源发出的光辐射经过光学元件进入待测样品，被检测单元接收；所述光学元件为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射能通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中。本发明所述测量系统及其光学元件，具备自检功能，使用方便，用户体验较佳。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 系统 及其 光学 元件 | ||
【主权项】：
一种测量系统，其特征在于，其包括：具有光源、光学元件、检测单元的测量装置，其中，所述光源发出的光辐射经过光学元件穿过待测样品，被检测单元接收；所述光学元件为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中。
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