[发明专利]测量系统及其光学元件

权利要求书

1.一种测量系统，其特征在于，其包括：

具有光源、光学元件、检测单元的测量装置，其中，所述光源发出的光辐射经过光学元件穿过待测样品，被检测单元接收；

所述光学元件为中空的透光本体，所述本体内能容置有预定样品，所述本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，所述光辐射通过所述第一平面窗口经过所述预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中。

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述光辐射经过所述光学元件后的传播方向不变。

3.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述本体上设置有开口，所述设置方式包括焊接、密封连接中的一种。

4.如权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述开口包括第一开口和第二开口，所述本体包括与所述第一平面窗口、第二平面窗口相邻接的第一端面和第二端面，所述第一开口设置在所述第一端面上，所述第二开口设置在所述第二端面上。

5.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述预定样品包括：吹扫气、氮气、标准样品中的一种。

6.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述光学元件的外围还设置有加热件，用于对所述光学元件进行加热。

7.如权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述加热件单独设置。

8.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于，所述测量系统还包括检验光路回返模块，所述检验光路回返模块以可移动的方式设置于所述测量系统光路中，当所述测量系统进行检验时，所述检验光路回返模块移动至光路中预定位置；当所述测量系统进行测量时，所述检验光路回返模块移离所述光路中预定位置。

9.一种光学元件，其特征在于，其包括：中空的透光本体，所述本体上设置有至少一个开口；所述中空的本体内能容置有预定样品；

所述透光本体包括第一平面窗口和与所述第一平面窗口相对设置的第二平面窗口，光源发出的光辐射能通过所述第一平面窗口经过本体中的预定样品，从第二平面窗口出射进入待测样品中，所述光辐射经过所述光学元件后传播方向不变。

10.如权利要求9所述的光学元件，其特征在于，所述光学元件的外围还设置有加热件，用于对所述光学元件进行加热。