[发明专利]一种LED垂直芯片结构及其制作方法有效
申请号: | 201510778998.2 | 申请日: | 2015-11-13 |
公开(公告)号: | CN106711291B | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 童玲;张宇;徐慧文;李起鸣 | 申请(专利权)人: | 映瑞光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/48;H01L33/22;H01L33/36 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 智云 |
地址: | 201306 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种LED垂直芯片结构及其制作方法,包括以下步骤:S1:提供一蓝宝石衬底,在其上依次生长非故意掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层及P型GaN层;S2:形成若干分立的P电极;S3:形成若干分立的并覆盖所述P电极的第一键合金属层;并提供一键合基底,在其表面形成若干分立的第二键合金属层;S4:将所述第一键合金属层、第二键合金属层对准键合;S5:去除所述蓝宝石衬底;S6:去除所述非故意掺杂GaN层,并利用干法刻蚀工艺形成切割道;所述切割道避开键合金属层所在区域;S7:形成N电极。本发明采用图形化键合结构(由若干分立的键合金属层组成),有效避免了ICP刻蚀切割道时造成的金属飞溅问题,减少芯片漏电风险,从而有效提高芯片的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 键合金属层 分立 切割道 蓝宝石 垂直芯片 衬底 去除 掺杂 芯片 干法刻蚀工艺 多量子阱层 表面形成 对准键合 键合结构 所在区域 漏电 键合基 图形化 飞溅 制作 避开 金属 生长 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种LED垂直芯片结构的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:提供一蓝宝石衬底,并在其上依次生长非故意掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层及P型GaN层;S2:在所述P型GaN层上形成若干分立的P电极;S3:在所述P型GaN层上形成若干分立的并覆盖所述P电极的第一键合金属层;并提供一键合基底,在所述键合基底表面形成若干分立的第二键合金属层;所述第二键合金属层与所述第一键合金属层相对应;S4:将所述第一键合金属层、第二键合金属层对准键合;S5:去除所述蓝宝石衬底;S6:去除所述非故意掺杂GaN层,并刻蚀所述N型GaN层、多量子阱层及P型GaN层,形成切割道;所述切割道避开所述第一键合金属层、第二键合金属层所在区域;S7:在所述N型GaN层表面形成N电极。
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