[发明专利]实时测量物体变形的方法和系统在审
| 申请号： | 201510716357.4 | 申请日： | 2015-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN105371777A | 公开（公告）日： | 2016-03-02 |
| 发明（设计）人： | 高瞻;秦洁;张小琼 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人： | 毛燕生 |
| 地址： | 100044 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种实时测量物体变形的方法和系统，涉及测量领域。所述方法包括：选取两个激光器作为光源；将两束激光经第一半透半反镜调整至共路并照射到空间滤波器；所述一束激光经过所述空间滤波器的滤波和扩束，照射到第二半透半反镜，形成透射光和反射光；所述透射光照射在被测物上，经所述被测物反射，并被第二半透半反镜反射后，照射至电荷耦合元件CCD摄像头；所述反射光照射在参考物上，经所述参考物反射，并被第二半透半反镜透射，照射至CCD摄像头；照射至CCD摄像头的两束光重合产生干涉，生成干涉图；调整所述第二半透半反镜的角度；根据干涉图，计算得到所述被测物的基于时间的形变量。本发明采用双波长的方式实时测量物体的变形。 | ||
| 搜索关键词： | 实时 测量 物体 变形 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种实时测量物体变形的方法，其特征在于，包括：选取波长不同的两个激光器作为光源；将所述两个激光器的两束激光经第一半透半反镜调整至共路，使得所述两束激光合成一束激光，并照射到空间滤波器；所述一束激光经过所述空间滤波器的滤波和扩束，照射到第二半透半反镜；扩束后的所述激光经所述第二半透半反镜，形成透射光和反射光；所述透射光照射在被测物上，经所述被测物反射，并被第二半透半反镜反射后，经过成像镜头照射至电荷耦合元件CCD摄像头；所述反射光照射在参考物上，经所述参考物反射，并被所述第二半透半反镜透射，经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头；照射至所述CCD摄像头的两束光重合产生干涉，经过所述成像镜头在所述CCD摄像头上生成干涉图；调整所述第二半透半反镜的角度，使得所述干涉图中的两个波长的条纹互相平行；根据所述干涉图，计算得到所述被测物的基于时间的形变量。
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