[发明专利]实时测量物体变形的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201510716357.4 申请日: 2015-10-29
公开(公告)号: CN105371777A 公开(公告)日: 2016-03-02
发明(设计)人: 高瞻;秦洁;张小琼 申请(专利权)人: 北京交通大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京市商泰律师事务所 11255 代理人: 毛燕生
地址: 100044 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 实时 测量 物体 变形 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种实时测量物体变形的方法,其特征在于,包括:

选取波长不同的两个激光器作为光源;

将所述两个激光器的两束激光经第一半透半反镜调整至共路,使得所述 两束激光合成一束激光,并照射到空间滤波器;

所述一束激光经过所述空间滤波器的滤波和扩束,照射到第二半透半反 镜;

扩束后的所述激光经所述第二半透半反镜,形成透射光和反射光;

所述透射光照射在被测物上,经所述被测物反射,并被第二半透半反镜 反射后,经过成像镜头照射至电荷耦合元件CCD摄像头;

所述反射光照射在参考物上,经所述参考物反射,并被所述第二半透半 反镜透射,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头;

照射至所述CCD摄像头的两束光重合产生干涉,经过所述成像镜头在所述 CCD摄像头上生成干涉图;

调整所述第二半透半反镜的角度,使得所述干涉图中的两个波长的条纹 互相平行;

根据所述干涉图,计算得到所述被测物的基于时间的形变量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述干涉图,计 算得到所述被测物的基于时间的形变量的步骤包括:

根据所述干涉图,选择与所述干涉图波形相应的一小波基;

根据所述小波基,对所述干涉图进行小波变换,算出小波脊;

根据所述小波脊,获得相应的截断相位图,继而进行相位展开,获得所 述被测物的基于时间的相位变化量;

根据所述被测物的基于时间的相位变化量,生成所述被测物的基于时间 的形变量。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述波长不同的两个激光 器中,一个所述激光器发射蓝色光,另一个所述激光器发射绿色光。

4.一种实时测量物体变形的系统,其特征在于,包括:波长不同的两个 激光器、第一半透半反镜、空间滤波器、第二半透半反镜、参考物、成像镜 头、电荷耦合元件CCD摄像头、处理器;

所述两个激光器用于,作为光源,发射波长不同的两束激光;

所述第一半透半反镜用于,将所述两个激光器的两束激光调整至共路, 使得所述两束激光合成一束激光,并照射到所述空间滤波器;

所述空间滤波器用于,对所述一束激光进行滤波和扩束,照射到第二半 透半反镜;

所述第二半透半反镜用于,使得扩束后的所述激光经所述第二半透半反 镜,形成透射光和反射光;所述透射光照射在被测物上,经所述被测物反 射,并被第二半透半反镜反射后,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头; 所述反射光照射在所述参考物上,经所述参考物反射,并被所述第二半透半 反镜透射,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头;

所述成像镜头和CCD摄像头用于,使得照射至所述CCD摄像头的两束光重 合产生干涉,经过所述成像镜头在所述CCD摄像头上生成干涉图;

所述第二半透半反镜用于,通过调整角度,使得所述干涉图中的两个波 长的条纹互相平行;

所述处理器用于,根据所述干涉图,计算得到所述被测物的基于时间的 形变量。

5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述处理器包括:

第一计算单元,选择与所述干涉图波形相应的一小波基;

第二计算单元,根据所述小波基,对所述干涉图进行小波变换,算出小波 脊;

第三计算单元,获得相应的截断相位图,继而进行相位展开,获得所述被 测物的基于时间的相位变化量;

第四计算单元,根据所述被测物的基于时间的相位变化量,生成所述被测 物的基于时间的形变量。

6.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述波长不同的两个激光器 中,一个所述激光器发射蓝色光,另一个所述激光器发射绿色光。

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