[发明专利]实时测量物体变形的方法和系统在审
申请号: | 201510716357.4 | 申请日: | 2015-10-29 |
公开(公告)号: | CN105371777A | 公开(公告)日: | 2016-03-02 |
发明(设计)人: | 高瞻;秦洁;张小琼 | 申请(专利权)人: | 北京交通大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人: | 毛燕生 |
地址: | 100044 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实时 测量 物体 变形 方法 系统 | ||
1.一种实时测量物体变形的方法,其特征在于,包括:
选取波长不同的两个激光器作为光源;
将所述两个激光器的两束激光经第一半透半反镜调整至共路,使得所述 两束激光合成一束激光,并照射到空间滤波器;
所述一束激光经过所述空间滤波器的滤波和扩束,照射到第二半透半反 镜;
扩束后的所述激光经所述第二半透半反镜,形成透射光和反射光;
所述透射光照射在被测物上,经所述被测物反射,并被第二半透半反镜 反射后,经过成像镜头照射至电荷耦合元件CCD摄像头;
所述反射光照射在参考物上,经所述参考物反射,并被所述第二半透半 反镜透射,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头;
照射至所述CCD摄像头的两束光重合产生干涉,经过所述成像镜头在所述 CCD摄像头上生成干涉图;
调整所述第二半透半反镜的角度,使得所述干涉图中的两个波长的条纹 互相平行;
根据所述干涉图,计算得到所述被测物的基于时间的形变量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述干涉图,计 算得到所述被测物的基于时间的形变量的步骤包括:
根据所述干涉图,选择与所述干涉图波形相应的一小波基;
根据所述小波基,对所述干涉图进行小波变换,算出小波脊;
根据所述小波脊,获得相应的截断相位图,继而进行相位展开,获得所 述被测物的基于时间的相位变化量;
根据所述被测物的基于时间的相位变化量,生成所述被测物的基于时间 的形变量。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述波长不同的两个激光 器中,一个所述激光器发射蓝色光,另一个所述激光器发射绿色光。
4.一种实时测量物体变形的系统,其特征在于,包括:波长不同的两个 激光器、第一半透半反镜、空间滤波器、第二半透半反镜、参考物、成像镜 头、电荷耦合元件CCD摄像头、处理器;
所述两个激光器用于,作为光源,发射波长不同的两束激光;
所述第一半透半反镜用于,将所述两个激光器的两束激光调整至共路, 使得所述两束激光合成一束激光,并照射到所述空间滤波器;
所述空间滤波器用于,对所述一束激光进行滤波和扩束,照射到第二半 透半反镜;
所述第二半透半反镜用于,使得扩束后的所述激光经所述第二半透半反 镜,形成透射光和反射光;所述透射光照射在被测物上,经所述被测物反 射,并被第二半透半反镜反射后,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头; 所述反射光照射在所述参考物上,经所述参考物反射,并被所述第二半透半 反镜透射,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头;
所述成像镜头和CCD摄像头用于,使得照射至所述CCD摄像头的两束光重 合产生干涉,经过所述成像镜头在所述CCD摄像头上生成干涉图;
所述第二半透半反镜用于,通过调整角度,使得所述干涉图中的两个波 长的条纹互相平行;
所述处理器用于,根据所述干涉图,计算得到所述被测物的基于时间的 形变量。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述处理器包括:
第一计算单元,选择与所述干涉图波形相应的一小波基;
第二计算单元,根据所述小波基,对所述干涉图进行小波变换,算出小波 脊;
第三计算单元,获得相应的截断相位图,继而进行相位展开,获得所述被 测物的基于时间的相位变化量;
第四计算单元,根据所述被测物的基于时间的相位变化量,生成所述被测 物的基于时间的形变量。
6.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述波长不同的两个激光器 中,一个所述激光器发射蓝色光,另一个所述激光器发射绿色光。
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