[发明专利]EEPROM的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510695208.4 申请日: 2015-10-22
公开(公告)号: CN105226028B 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 高超;江红;李冰寒 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;H01L21/266
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出了一种EEPROM的制备方法,在形成存储比特结构和常开比特结构之后,对其中需要置于常开比特结构进行离子注入,离子注入于常开比特结构下方衬底的表面,可以降低阈值电压,提高电流,在EEPROM工作时有利于数据的存储和维持,提高器件的性能。
搜索关键词: 比特结构 制备 离子 存储 阈值电压 衬底
【主权项】:
1.一种EEPROM的制备方法,其特征在于,包括步骤:提供衬底,在所述衬底上形成有字线、存储比特结构、常开比特结构、介质层、栅介质层及源漏极,所述源漏极形成在所述衬底内,所述栅介质层形成在所述衬底上,所述字线、存储比特结构、常开比特结构及介质层均形成在所述栅介质层上,所述存储比特结构和常开比特结构位于所述字线的两侧,并由所述介质层隔离开;对所述常开比特结构进行离子注入处理,离子注入于常开比特结构下方衬底的表面,降低阈值电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510695208.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top