[发明专利]一种针对信号处理平台的重离子辐照试验测试系统在审

专利信息
申请号: 201510620830.9 申请日: 2015-09-25
公开(公告)号: CN105223493A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 杨俊;王跃科;杨建伟;邢克飞;胡梅;何伟;杨道宁 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01R31/307 分类号: G01R31/307
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人: 周长清
地址: 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 一种针对信号处理平台的重离子辐照试验测试系统,包括:上位机,用来负责数据接收、处理、存储、显示,以及试验流程控制;供电管理单元,包括程控电源,程控电源与上位机连接,用来负责整个系统的供电,反馈系统和器件的电流给上位机;FPGA+DSP信号处理单元,作为典型空间应用载荷信号处理平台,其中FPGA为SRAM-FPGA,作为重离子辐照试验的被测单元;管理测试单元,包括一块FPGA,用来负责试验过程中的系统配置、数据采集和异常控制。本发明具有架构灵活、被测对象灵活、测试项多、数据传输速度快等优点。
搜索关键词: 一种 针对 信号 处理 平台 离子 辐照 试验 测试 系统
【主权项】:
一种针对信号处理平台的重离子辐照试验测试系统,其特征在于,包括:上位机,用来负责数据接收、处理、存储、显示,以及试验流程控制;供电管理单元,包括程控电源,程控电源与上位机连接,用来负责整个系统的供电,反馈系统和器件的电流给上位机;FPGA+DSP信号处理单元,作为典型空间应用载荷信号处理平台,其中FPGA为SRAM‑FPGA,作为重离子辐照试验的被测单元;管理测试单元,包括一块FPGA,用来负责试验过程中的系统配置、数据采集和异常控制。
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