[发明专利]I/O插件的上电自检方法和装置有效
| 申请号： | 201510607140.X | 申请日： | 2015-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN105095039B | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 王奇;喻文冲;贺建国;代飞;颜光;朱晖;彭扶权;易红;罗永升;单勇腾;李晓涛 | 申请（专利权）人： | 湖南中车时代通信信号有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 施浩 |
| 地址： | 410100 湖南省长沙市*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种I/O插件的上电自检方法和装置，对插件进行系统全面的自检，防止存在隐患的插件导致系统在运行时出现故障。其技术方案为：进行SRAM芯片自检；进行闪存芯片自检；进行CPU片内RAM自检；进行插件内部通信通道自检；进行插件通道上电自检。 | ||
| 搜索关键词： | 插件 自检 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种I/O插件的上电自检方法，I/O插件的上电自检方法用于安全计算机平台或列车运行监控系统，方法包括：进行SRAM芯片自检，通过多次逐地址的读写操作对SRAM芯片的全地址范围进行检查；进行闪存芯片自检；进行CPU片内RAM自检，通过多次逐地址的读写操作对CPU片内的RAM进行检查；进行插件内部通信通道自检；进行插件通道上电自检。
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