[发明专利]I/O插件的上电自检方法和装置有效
| 申请号： | 201510607140.X | 申请日： | 2015-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN105095039B | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 王奇;喻文冲;贺建国;代飞;颜光;朱晖;彭扶权;易红;罗永升;单勇腾;李晓涛 | 申请（专利权）人： | 湖南中车时代通信信号有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 施浩 |
| 地址： | 410100 湖南省长沙市*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 插件 自检 方法 装置 | ||
1.一种I/O插件的上电自检方法，I/O插件的上电自检方法用于安全计算机平台或列车运行监控系统，方法包括：
进行SRAM芯片自检，通过多次逐地址的读写操作对SRAM芯片的全地址范围进行检查；
进行闪存芯片自检；
进行CPU片内RAM自检，通过多次逐地址的读写操作对CPU片内的RAM进行检查；
进行插件内部通信通道自检；
进行插件通道上电自检。
2.根据权利要求1所述的I/O插件的上电自检方法，其特征在于，在闪存芯片自检的步骤中，是通过检查软件的CRC校验码的方式对闪存芯片中用于存储软件的地址区域进行检查。
3.根据权利要求1所述的I/O插件的上电自检方法，其特征在于，在插件内部通信通道自检的步骤中，是检查插件各CPU之间的通信通道是否正常。
4.根据权利要求1所述的I/O插件的上电自检方法，其特征在于，在插件通道上电自检的步骤中，是检查输入采集通道是否正常。
5.一种I/O插件的上电自检装置，I/O插件的上电自检装置用于安全计算机平台或列车运行监控系统，装置包括：
SRAM芯片自检模块，用于SRAM芯片自检，通过多次逐地址的读写操作对SRAM芯片的全地址范围进行检查；
闪存芯片自检模块，用于闪存芯片自检；
RAM自检模块，用于CPU片内RAM自检，通过多次逐地址的读写操作对CPU片内的RAM进行检查；
插件通信通道自检模块，用于插件内部通信通道自检；
插件通道上电自检模块，用于插件通道上电自检。
6.根据权利要求5所述的I/O插件的上电自检装置，其特征在于，闪存芯片自检模块是通过检查软件的CRC校验码的方式对闪存芯片中用于存储软件的地址区域进行检查。
7.根据权利要求5所述的I/O插件的上电自检装置，其特征在于，插件通信通道自检模块是检查插件各CPU之间的通信通道是否正常。
8.根据权利要求5所述的I/O插件的上电自检装置，其特征在于，插件通道上电自检模块是检查输入采集通道是否正常。
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