[发明专利]一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件有效
申请号: | 201510598133.8 | 申请日: | 2015-09-18 |
公开(公告)号: | CN105204114B | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 刘波;朱智超;程传伟;顾牡;陈鸿;陈亮;刘金良;欧阳晓平 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G02B6/122 | 分类号: | G02B6/122 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件,包括基底层和基底层上面布置的发光薄膜层,还包括布置在发光薄膜层上面的光子晶体层,所述的光子晶体层由排列呈周期阵列的介质柱构成,介质柱垂直布置于发光薄膜层上表面,介质柱的材料对发光薄膜层发射的光透明。与现有技术相比,本发明具有高的转换效率和高度的光发射方向调控能力,而且能够提高对紫外等闪烁荧光的探测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 闪烁 探测 系统 光子 晶体 器件 | ||
【主权项】:
1.一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件,包括基底层和基底层上面布置的发光薄膜层,其特征在于,还包括布置在发光薄膜层上面的光子晶体层,所述的光子晶体层由排列呈周期阵列的介质柱构成,介质柱垂直布置于发光薄膜层上表面,介质柱的材料对发光薄膜层发射的光透明;所述的介质柱排列呈正方周期阵列,该正方周期阵列的周期的取值范围为450~600nm,所述的介质柱的直径为正方周期阵列的周期的0.45~0.55倍,介质柱的高度为发光薄膜层的主发光峰对应的真空中的中心波长的0.45~0.55倍;所述的发光薄膜层的厚度介于
与
之间;其中,λ为发光薄膜层的主发光峰对应的真空中的中心波长,n1为发光薄膜层的折射率,n2为基底层的折射率。
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