[发明专利]一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件

权利要求书

1.一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件，包括基底层和基底层上面布置的发光薄膜层，其特征在于，还包括布置在发光薄膜层上面的光子晶体层，所述的光子晶体层由排列呈周期阵列的介质柱构成，介质柱垂直布置于发光薄膜层上表面，介质柱的材料对发光薄膜层发射的光透明；

所述的介质柱排列呈正方周期阵列，该正方周期阵列的周期的取值范围为450～600nm，所述的介质柱的直径为正方周期阵列的周期的0.45～0.55倍，介质柱的高度为发光薄膜层的主发光峰对应的真空中的中心波长的0.45～0.55倍；

所述的发光薄膜层的厚度介于与之间；其中，λ为发光薄膜层的主发光峰对应的真空中的中心波长，n₁为发光薄膜层的折射率，n₂为基底层的折射率。

2.根据权利要求1所述的一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件，其特征在于，所述的介质柱的直径为正方周期阵列的周期的0.5倍，介质柱的高度为310nm。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件，其特征在于，所述的介质柱的材料包括SiN、GaN或TiO₂。

4.根据权利要求1所述的一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件，其特征在于，所述的发光薄膜层为Lu_0.9Eu_0.1TaO₄，主发光峰对应的真空中的中心波长为613nm。

5.根据权利要求1所述的一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件，其特征在于，所述的基底层为对真空紫外光透明的材料，包括石英玻璃、LiF晶体、CaF₂晶体、MgF₂晶体或BaF₂晶体。