[发明专利]一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪有效
| 申请号: | 201510596413.5 | 申请日: | 2015-09-18 |
| 公开(公告)号: | CN105067117B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
| 发明(设计)人: | 易涛;王传珂;刘慎业;王保清;李晋;朱效立;谢长青 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
| 代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人: | 翟长明,韩志英 |
| 地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极;物体发出的X射线通过入射狭缝,经透射光栅色散,形成两个分辨率不同的光谱,两光谱在空间上错位,经过条纹相机前的光阴极狭缝,挡除多余光谱,即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本发明的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上,可获得更高的谱分辨率,并且适用于时间分辨光谱的测量,对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 分辨 测量 范围 透射 光栅 | ||
【主权项】:
一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝元件(2)、透射光栅元件(3)和条纹相机(4),所述的入射狭缝元件(2)、透射光栅元件(3)和条纹相机(4)在光路的z方向依次排布;所述的透射光栅元件(3)上包含低线对密度光栅(9)和高线对密度光栅(10);所述的条纹相机(4)上包含光阴极狭缝元件(5)和光阴极元件(6),所述的光阴极狭缝元件(5)和光阴极元件(6)在光路的z方向依次排布;X射线源(1)产生的X射线经入射狭缝元件(2),透射光栅元件(3)色散,形成两个分辨率不同的光谱,两光谱在空间上错位,经条纹相机(4)扫描后,获得X射线光谱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心,未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510596413.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:位于壳体中的热交换器
- 下一篇:布料智能烘干装置





