[发明专利]一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪有效

专利信息
申请号: 201510596413.5 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN105067117B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 易涛;王传珂;刘慎业;王保清;李晋;朱效立;谢长青 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极;物体发出的X射线通过入射狭缝,经透射光栅色散,形成两个分辨率不同的光谱,两光谱在空间上错位,经过条纹相机前的光阴极狭缝,挡除多余光谱,即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本发明的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上,可获得更高的谱分辨率,并且适用于时间分辨光谱的测量,对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。
搜索关键词: 一种 分辨 测量 范围 透射 光栅
【主权项】:
一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝元件(2)、透射光栅元件(3)和条纹相机(4),所述的入射狭缝元件(2)、透射光栅元件(3)和条纹相机(4)在光路的z方向依次排布;所述的透射光栅元件(3)上包含低线对密度光栅(9)和高线对密度光栅(10);所述的条纹相机(4)上包含光阴极狭缝元件(5)和光阴极元件(6),所述的光阴极狭缝元件(5)和光阴极元件(6)在光路的z方向依次排布;X射线源(1)产生的X射线经入射狭缝元件(2),透射光栅元件(3)色散,形成两个分辨率不同的光谱,两光谱在空间上错位,经条纹相机(4)扫描后,获得X射线光谱。
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