[发明专利]一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪有效

专利信息
申请号: 201510596413.5 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN105067117B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 易涛;王传珂;刘慎业;王保清;李晋;朱效立;谢长青 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 分辨 测量 范围 透射 光栅
【权利要求书】:

1.一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝元件(2)、透射光栅元件(3)和条纹相机(4),所述的入射狭缝元件(2)、透射光栅元件(3)和条纹相机(4)在光路的z方向依次排布;所述的透射光栅元件(3)上包含低线对密度光栅(9)和高线对密度光栅(10);所述的条纹相机(4)上包含光阴极狭缝元件(5)和光阴极元件(6),所述的光阴极狭缝元件(5)和光阴极元件(6)在光路的z方向依次排布;X射线源(1)产生的X射线经入射狭缝元件(2),透射光栅元件(3)色散,形成两个分辨率不同的光谱,两光谱在空间上错位,经条纹相机(4)扫描后,获得X射线光谱。

2.根据权利要求1所述的高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的入射狭缝元件(2)固定于透射光栅元件(3)前,入射狭缝元件(2)上刻有狭缝A(7)和狭缝B(8),狭缝A(7)与狭缝B(8)宽度均为D1;狭缝A(7)的长度大于低线对密度光栅(9)的长度,狭缝A(7)的中心与低线对密度光栅(9)的中心在z方向重合;狭缝B(8)的长度大于高线对密度光栅(10)的长度,狭缝B(8)的中心与高线对密度光栅(10)的中心在z方向重合。

3.根据权利要求1所述的高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的低线对密度光栅(9)线对密度为1000到2000线对/毫米;高线对密度光栅(10)线对密度为2000到5000线对/毫米;低线对密度光栅(9)与高线对密度光栅(10)内侧边缘在x方向相距距离为X0;低线对密度光栅(9)与高线对密度光栅(10)中心在y方向相距距离为Y0

4.根据权利要求1所述的高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的光阴极狭缝元件(5)上刻有狭缝C(11)和狭缝D(12);狭缝C(11)底端与狭缝D(12)顶端在y方向对称,狭缝D(12)底端中心与高线对密度光栅(10)中心在z方向重合;狭缝C(11)与狭缝D(12)宽度相等,宽度值范围为100~300微米;狭缝C(11)长度为Y1,狭缝D(12)长度为Y2;狭缝C(11)与狭缝D(12)内侧边缘沿x方向相距距离X0

5.根据权利要求1所述的高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪,其特征在于,所述的光阴极元件(6)固定于光阴极狭缝元件(5)后且覆盖光阴极狭缝;光阴极元件(6)的长度值是狭缝C(11)与狭缝D(12)长度之和,宽度值等于狭缝C、狭缝D及其内侧边缘沿x方向相距距离之和。

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