[发明专利]数据线短接不良的检测方法和检测装置有效
申请号: | 201510596121.1 | 申请日: | 2015-09-17 |
公开(公告)号: | CN105261317B | 公开(公告)日: | 2018-05-29 |
发明(设计)人: | 崔立全;黄杨;李琳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 柴亮;张天舒 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。所述数据线短接不良的检测方法用于检测相邻的数据线是否存在短接,以及确定短接发生的位置,所述检测方法包括:仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号,将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮;检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮;在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时,识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素,并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线,该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。上述检测方法可以检测数据线短接不良的位置,从而可以通过修复数据线不良,提供产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 数据线 短接 偶数列 奇数列 像素 检测 数据线连接 检测装置 点亮 检测数据 数据信号 修复数据 像素点 良率 | ||
【主权项】:
1.一种数据线短接不良的检测方法,用于检测相邻的数据线是否存在短接,以及确定短接发生的位置,其特征在于,所述检测方法包括:仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号,将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮;检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮;在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时,识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素,并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线,该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。
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