[发明专利]数据线短接不良的检测方法和检测装置

说明书

本发明提供一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。所述数据线短接不良的检测方法用于检测相邻的数据线是否存在短接，以及确定短接发生的位置，所述检测方法包括：仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮；检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮；在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。上述检测方法可以检测数据线短接不良的位置，从而可以通过修复数据线不良，提供产品的良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。

背景技术

显示面板的制备需经过阵列(Array)工艺、成盒(Cell)工艺和模组(Moduel)工艺。其中，Array工艺一般包括栅线和数据线的制备、薄膜晶体管的制备、像素电极的制备等。图1为现有的显示面板的示意图。如图1所示，显示面板包括多行栅线和多列数据线，该多行栅线和多列数据线限定出多个像素。在Array工艺中，制备栅线时，在显示面板的边框(Fanout)区保留两条“栅线”(该栅线不与栅极驱动电路连接)作为数据线和源极驱动电路之间的连接线，如图1所示，奇数列数据线与其中一条连接线do连接，偶数列数据线与另一条连接线de连接，所述连接线do与源极驱动电路中用于向奇数列数据线提供数据信号的DO端连接，所述连接线de与源极驱动电路中用于向偶数列数据线提供数据信号的DE端连接，从而，源极驱动电路可以单独向奇数列和偶数列数据线输入数据信号。

在Array工艺中，由于工艺缺陷、操作失误及工艺精度等原因，相邻的数据线可能会短接在一起(即DDS不良，其会造成显示缺陷)，如图1中的左起第三列和第四列数据线；因此，在Array工艺完成后，需要进行检测(Array Test)，并在检测存在上述DDS不良时，对数据线进行修复，以提高显示面板的良品率。

现有检测DDS不良的方法主要是：利用Array Test设备向所有的数据线输入数据信号，将所有的像素点亮(图1中，圆形表示像素处于点亮状态)；根据各数据线中数据信号的变化确定是否存在DDS不良。其原理是：如果相邻的数据线短接在一起，DO端和DE端的负载会变大，进而，各列数据线上的信号发生变化，这样可以通过检测数据线上的数据信号变化确定是否存在DDS不良。

上述检测方法虽然可以确定是否存在DDS不良，但DO端和DE端的负载同时变大，相应地，各数据线上的信号均会发生变化，从而使得无法确定发生DDS不良的具体位置，也不能通过维修将显示面板修复，产品的良率并不能得到提高。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种数据线短接不良的检测方法和检测装置，其可以确定数据线短接不良的发生位置，从而通过将数据线发生不良的位置修复，可以提供产品的良率。

为实现本发明的目的而提供一种数据线短接不良的检测方法，用于检测相邻的数据线是否存在短接，以及确定短接发生的位置，所述检测方法包括：

仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮；

检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮；

在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。

其中，所述检测方法还包括在确定存在发生短接的数据线后进行的：

仅向偶数列数据线/奇数列数据线提供数据信号，将与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素点亮；