[发明专利]一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法

摘要

本发明公开了一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，方法为：应用混合熔剂作为氧化剂在石墨坩埚内高温将硅铝钡锶合金熔融氧化成小球，再将熔剂与熔融好的小球放入铂金坩埚内，利用高频熔融机对其进行熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铝钡锶合金测试样品玻璃样片；用X射线荧光光谱仪测试硅铝钡锶合金标准样品与测试样品中各元素的强度，计算试样中各组分的含量。上述技术方案使得制成的玻璃样片中元素分布均匀，无颗粒效应，可长期保存；操作方法简单、安全、样片制备时间短，实现了同时进行硅铝钡锶合金中主次量元素的快速准确的测定。

主权项

一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述的分析方法包括以下步骤：第一步，制备标准样品玻璃样片：1）称取0.2000～0.3500g的硅铝钡锶标准样品，加入3.000～6.000g的混合熔剂，放入称量皿中，充分混匀后，移入到中速或慢速定量滤纸上，用滤纸包裹好之后备用；2）将步骤1）中的滤纸包放入石墨坩埚内，先放入900±50℃马弗炉边缘，待滤纸燃烧冒烟完毕后再将石墨坩埚移入马弗炉中心位置，关上炉门熔融15min～20min，取出，冷却；将熔好的小球取出，用毛刷将表面石墨粉刷净后再用干净纱布擦净备用；3）称取6.0000～10.0000g四硼酸锂于铂金坩埚内，将步骤2）中制得的小球放入四硼酸锂内，滴加8～10滴40%的碘化铵,用高频熔融机熔融，制备得到用于X射线荧光光谱分析的硅铝钡锶合金标准样品玻璃样片；第二步，制备测试样品玻璃样片：取硅铝钡锶合金测试样品重复第一步操作；第三步，测试：用X射线荧光光谱仪测试硅铝钡锶合金标准样品与测试样品中各元素的强度，计算试样中各组分的含量。