[发明专利]一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法

权利要求书

1.一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述的分析方法包括以下步骤：

第一步，制备标准样品玻璃样片：

1）称取0.2000～0.3500g的硅铝钡锶标准样品，加入3.000～6.000g的混合熔剂，放入称量皿中，充分混匀后，移入到中速或慢速定量滤纸上，用滤纸包裹好之后备用；

2）将步骤1）中的滤纸包放入石墨坩埚内，先放入900±50℃马弗炉边缘，待滤纸燃烧冒烟完毕后再将石墨坩埚移入马弗炉中心位置，关上炉门熔融15min～20min，取出，冷却；将熔好的小球取出，用毛刷将表面石墨粉刷净后再用干净纱布擦净备用；

3）称取6.0000～10.0000g四硼酸锂于铂金坩埚内，将步骤2）中制得的小球放入四硼酸锂内，滴加8～10滴40%的碘化铵,用高频熔融机熔融，制备得到用于X射线荧光光谱分析的硅铝钡锶合金标准样品玻璃样片；

第二步，制备测试样品玻璃样片：取硅铝钡锶合金测试样品重复第一步操作；

第三步，测试：用X射线荧光光谱仪测试硅铝钡锶合金标准样品与测试样品中各元素的强度，计算试样中各组分的含量。

2.按照权利要求1所述的一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述混合熔剂其各成分质量比为碳酸钠:硼酸:硝酸钾=3:2:1。

3.按照权利要求1或2所述的用于X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分分析方法，其特征在于：滤纸包放入前，向所述石墨坩埚内加入石墨粉并压紧，石墨粉内部成碗底型，石墨粉底部与石墨坩埚上边缘距离2.5±0.5cm，石墨粉底部光滑。

4.按照权利要求1或2所述的用于X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分分析方法，其特征在于：所述石墨粉侧面与底面呈110°～120°角。

5.按照权利要求1或2所述的一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述高频熔融机参数设置如下：一热时间60S，温度1030±20℃，二热120S，温度1050±20℃，熔融720S，温度1050±20℃。

6.按照权利要求1或2所述的一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述石墨坩埚直径为7cm～10cm。

7.按照权利要求1或2所述的一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述石墨坩埚直径为8cm。

8.按照权利要求1或2所述的一种应用X射线荧光光谱分析硅铝钡锶合金成分的方法，其特征在于，所述方法适于分析Si、Al、Ba、Ca、Sr、Mn以及Fe元素成分。