[发明专利]荧光成像自动聚焦系统和方法在审
申请号: | 201510563304.3 | 申请日: | 2015-09-07 |
公开(公告)号: | CN105403543A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 艾哈迈德·布齐德;克里斯·奥莱夏克 | 申请(专利权)人: | 立科有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01;G02B21/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李宝泉;周亚荣 |
地址: | 美国内布*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 使用角照明来获得自动聚焦信息的定量荧光成像系统和方法。以角照明进行的激光扫描(例如点扫描或线扫描)结合区域成像传感器,诸如结合双远心扫描器,用于确定样本高度(相对于与固持样本的平台正交的检测轴)且还在后续扫描中校正样本高度。 | ||
搜索关键词: | 荧光 成像 自动 聚焦 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种荧光成像系统,包括:样本平台,所述样本平台用于固持荧光材料;光检测器,所述光检测器具有用于检测从所述荧光材料发射的光的感测位置的阵列;光学成像系统,所述光学成像系统定位在所述样本平台与所述光检测器之间,并且被配置成将从所述样本平台上的场点发射的光聚焦到所述光检测器上,其中所述样本平台上的连续场点同时被成像到所述光检测器上的连续感测位置上;照明系统,所述照明系统包括发射处于所述荧光材料的吸收带中的激发光的光源,其中所述照明系统提供相对于检测轴以一角度撞击在所述荧光材料上的照明光束,其中所述光束的入射平面包括所述检测轴和扫描方向;扫描机构,所述扫描机构实现沿着所述扫描方向相对于所述样本平台的所述照明光束的连续扫描;以及智能模块,所述智能模块被耦接到所述光检测器并且被配置成基于所述光检测器上由所述光检测器检测的最大照度的位置的沿着所述扫描方向的变化来确定平行于所述检测轴的所述荧光材料的高度的沿着所述扫描方向的变化。
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