[发明专利]微机电系统MEMS磁通门磁强计测试系统及其控制方法有效
申请号: | 201510528324.7 | 申请日: | 2015-08-25 |
公开(公告)号: | CN105093155B | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 杨建中;刘幂;尤政;李滨;阮勇 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种微机电系统MEMS磁通门磁强计测试系统及其控制方法,包括激励信号源;基座;三轴微动平台,与基座固定相连,用于对微机电系统MEMS磁通门磁强计的位置进行调整;芯片固定装置,用于固定微机电系统MEMS磁通门磁强计,其设置在三轴微动平台的顶部,以跟随三轴微动平台移动;探针卡,分别与基座、激励信号源和微机电系统MEMS磁通门磁强计连接,用于在与微机电系统MEMS磁通门磁强计导通时,导出微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号;数据采集装置,与探针卡相连,用于采集输出信号;处理装置,与数据采集装置相连,用于接收微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号,并对输出信号进行锁相放大,以得到测试结果。本发明具有成本低、易于实现的优点。 | ||
搜索关键词: | 微机 系统 mems 磁通门 磁强计 测试 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种微机电系统MEMS磁通门磁强计测试系统,其特征在于,包括:激励信号源,用于为所述测试系统提供激励信号;基座;三轴微动平台,所述三轴微动平台与所述基座固定相连,所述三轴微动平台用于对微机电系统MEMS磁通门磁强计的位置进行调整;芯片固定装置,所述芯片固定装置用于固定所述微机电系统MEMS磁通门磁强计,所述芯片固定装置设置在所述三轴微动平台的顶部,以跟随所述三轴微动平台移动;探针卡,所述探针卡分别与所述基座、激励信号源和所述微机电系统MEMS磁通门磁强计连接,用于在与所述微机电系统MEMS磁通门磁强计导通时,导出所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号;数据采集装置,所述数据采集装置与所述探针卡相连,用于采集所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号;处理装置,所述处理装置与所述数据采集装置相连,用于接收所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号,并对所述输出信号进行锁相放大,以得到测试结果,其中,所述处理装置包括:控制模块和数字锁相放大器,所述控制模块用于控制所述数据采集装置采集所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号,所述数字锁相放大器用于提取所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号中的二倍频幅值。
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