[发明专利]非易失性半导体存储装置及其控制方法有效

专利信息
申请号: 201510505239.9 申请日: 2012-03-05
公开(公告)号: CN105161129B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 长富靖 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06;G11C16/10;G11C11/56
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 万利军;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供非易失性半导体存储装置及其控制方法。该非易失性半导体存储装置具有存储器单元阵列和控制电路。存储器单元阵列包括:构成为能够保持多个阈值电压分布的多个存储器单元;和共同连接于多个存储器单元的栅的多条字线。控制电路在执行了对存储器单元施加至少一部分为负的阈值电压分布从而删除存储器单元的数据的删除工作后,执行对存储器单元施加正的多种阈值电压分布中的最低的阈值电压分布的多次第一写入工作。控制电路,在多次第一写入工作的执行时、从控制器接受执行除了删除工作和第一写入工作以外的其他的工作的第一执行指令的情况下,在多次第一写入工作之间执行其他的工作。
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储 装置 及其 控制 方法
【主权项】:
1.一种非易失性半导体存储装置,其特征在于,具备:存储器单元阵列,其包括:构成为能够保持多个阈值电压分布的多个存储器单元及共同连接于多个所述存储器单元的栅的多条字线;和控制电路,其执行对具有负的阈值电压的所述存储器单元施加正的多种阈值电压分布中最低的阈值电压分布中的阈值电压的写入工作,所述存储器单元阵列具备:半导体基板;相对于所述半导体基板延伸于垂直方向,作为所述存储器单元的主体发挥作用的第一半导体层;设置于所述第一半导体层的侧面,蓄积电荷的电荷蓄积层;和设置为与所述第一半导体层一起夹着所述电荷蓄积层,作为所述存储器单元的栅及所述字线发挥作用的第一导电层,所述控制电路,从控制器接受了使写入工作执行的第一执行指令之后,向所述字线执行所述写入工作,在所述写入工作的执行时从所述控制器接受了中断指令的情况下,中断所述写入工作,并在所述中断后从所述控制器接受了再次开始指令的情况下,再次开始所述写入工作,所述控制电路,在所述中断后且所述再次开始前从所述控制器接受了状态指令的情况下,向所述控制器发送表示所述写入工作通过或失败的写入通过/失败信息及表示所述写入工作是否中断的信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东芝存储器株式会社,未经东芝存储器株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510505239.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top