[发明专利]一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法有效

专利信息
申请号: 201510501537.0 申请日: 2015-08-14
公开(公告)号: CN105136572B 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 张建;王明禄;左新龙;王纬波;唐文献;吴文伟;高翔 申请(专利权)人: 江苏科技大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙)32204 代理人: 李晓静
地址: 212003*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种蛋壳材料参数无损测试装置及测试方法,该装置中所述蛋壳包含大端和小端,所述蛋壳的小端上安装有上平板,大端的下方安装有下平板,在蛋壳的赤道上沿着经向与纬向交替均匀设有至少两个应变片,每个应变片分别与信号采集系统连接。本发明的一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法,只是对蛋壳赤道部位上一点进行弹性模量与泊松比的测量,消除了厚度不均匀所带来的影响,得到的测量值更加精确,提高了弹性模量和泊松比与真实值之间的准确性;对蛋壳进行整体压缩测量,无需切割处理,避免了切割所带来的局部误差,保证了蛋壳的完整性,且有利于蛋壳后续力学试验的实施。
搜索关键词: 一种 蛋壳 材料 参数 无损 测试 装置 方法
【主权项】:
一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法,其特征在于:所述蛋壳包含大端和小端,所述蛋壳的小端上安装有上平板,大端的下方安装有下平板,在蛋壳的赤道上沿着经向与纬向交替均匀设有至少两个应变片,每个应变片分别与信号采集系统连接;该方法包括以下步骤:(1)通过投影法或3D扫描仪获取蛋壳轮廓线;(2)获取蛋壳轮廓线赤道处的第一曲率半径R1和第二曲率半径R2,并测量蛋壳轮廓线赤道处的平均厚度t;(3)在蛋壳赤道上沿着经向与纬向交替均匀布置至少两个应变片,并将每个应变片分别连接信号采集系统;(4)保持蛋壳小端在上,沿长轴方向对蛋壳施加集中力F,Fmax的值应小于蛋壳破坏力的1/3,并获取集中力F、经向应变、纬向应变关于时间的变化曲线;(5)通过变化曲线获取最大集中力Fmax及经向应变纬向应变εθ;(6)计算经向应力纬向应力σθ,平均纬向应变和平均经向应变其中:n为纬向应变片的个数,m为经向应变片的个数,ε2i为纬向应变片的读数,ε3j为经向应变片的读数;(7)根据以下公式:求出泊松比μ和弹性模量E,即:
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