[发明专利]一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法

权利要求书

1.一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法，其特征在于：所述蛋壳包含大端和小端，所述蛋壳的小端上安装有上平板，大端的下方安装有下平板，在蛋壳的赤道上沿着经向与纬向交替均匀设有至少两个应变片，每个应变片分别与信号采集系统连接；

该方法包括以下步骤：

(1)通过投影法或3D扫描仪获取蛋壳轮廓线；

(2)获取蛋壳轮廓线赤道处的第一曲率半径R₁和第二曲率半径R₂，并测量蛋壳轮廓线赤道处的平均厚度t；

(3)在蛋壳赤道上沿着经向与纬向交替均匀布置至少两个应变片，并将每个应变片分别连接信号采集系统；

(4)保持蛋壳小端在上，沿长轴方向对蛋壳施加集中力F，F_max的值应小于蛋壳破坏力的1/3，并获取集中力F、经向应变、纬向应变关于时间的变化曲线；

(5)通过变化曲线获取最大集中力F_max及经向应变纬向应变ε_θ；

(6)计算经向应力纬向应力σ_θ，平均纬向应变和平均经向应变其中：n为纬向应变片的个数，m为经向应变片的个数，ε_2i为纬向应变片的读数，ε_3j为经向应变片的读数；

(7)根据以下公式：求出泊松比μ和弹性模量E，即：

2.根据权利要求1所述的蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法，其特征在于：所述步骤(2)中第一曲率半径R₁ 和第二曲率半径R₂ 通过AUTOCAD做图测蛋壳轮廓线获得。

3.根据权利要求2所述的蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法，其特征在于：所述步骤(2)中蛋壳轮廓线赤道处的平均厚度采用下列方法测得：在蛋壳轮廓线赤道处通过无损测厚仪测量至少3个均匀分布点的厚度，然后取厚度的平均值。